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News - Baugruppen- und System-Test

Viscom_X7056AOI mit AXI On Demand

24. November 2010 - Das Inspektionssystem X7056 von Viscom kombiniert die automatische optische Inspektion (AOI) mit der Inline-Röntgenprüfung (AXI) in einem System. Neben der sicheren Detektion verdeckter Fehler kann die Röntgeneinheit im System auch selektiv zur Verifikation eingesetzt werden (AXI-OnDemand). Das ist besonders bei den Prüfaufgaben sinnvoll, die eine AOI mit hohem Durchsatz fordern. Die Vorteile: effektive Pseudofehlerreduktion und Erhöhung der Prüftiefe.

 

Das Inspektionssystem X7056 von Viscom zeichnet sich dadurch aus, dass sowohl die optische Inspektion als auch die Röntgenprüfung in einem System durchgeführt werden können. Auf diese Weise können sichtbare und verdeckte Fehler auf Baugruppen detektiert werden, ohne die Baugruppen in ein zweites Prüfsystem überführen zu müssen. Beide Inspektionsverfahren können so sehr schnell und einfach mit der gleichen Bedienoberfläche ausgeführt werden.

Das System garantiert damit höchste Flexibilität in der Prüfabdeckung. Für Prüfaufgaben, die in erster Linie eine AOI mit hohem Durchsatz fordern, kann die Röntgeneinheit im System selektiv zur Verifikation einzelner Fehler eingesetzt werden (AXI-OnDemand). Damit ist es möglich, die AOI-Toleranzen sehr eng zu fassen und Schlupf sicher zu vermeiden. Dies ist besonders dort von Vorteil, wo höchste Prüftiefe oberste Priorität hat.

Mit AXI-OnDemand haben Elektronikhersteller die Möglichkeit einer sehr effektiven Qualitätskontrolle. Sie können die Röntgeninspektion beispielsweise nur dort einsetzen, wo sie angebracht erscheint, z. B. bei nicht benetzbaren Stanzkanten bei QFPs. Dieser Fehlertyp kann besonders bei neuen Chargen auftreten. Hier helfen Zusatzbilder vom AXI, die Qualität sicher zu beurteilen. Ein weiteres Einsatzbeispiel sind QFN-Bauteile, die ebenfalls mit hochauflösenden Röntgenbildern besser und zuverlässiger zu beurteilen sind.

Eine weitere nützliche Option des Kombiprüfsystems X7056 ist das Balancing. Besteht z. B. noch ungenutzte Taktzeit im Röntgenbereich der Anlage, können Prüfungen zur Lötstellenkontrolle in den Röntgenbereich der Anlage verlagert werden, um das System bestmöglich auszunutzen.

www.viscom.com


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