Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Baugruppen- und System-Test

Boundary Scan Plattform ermöglicht Applikationen mit Potenzialtrennung

25. Oktober 2010 - GÖPEL electronic stellt unter dem Namen TEM/ISO eine weiteren Komponente im Rahmen der JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform SCANFLEX® vor. Das neuentwickelte TAP Extension Module (TEM) wurde speziell für Applikationen in kritischen Signalumgebungen mit notwendiger Potenzialtrennung konzipiert und ermöglicht eine vollständig galvanische Isolation des TAP Transceivers vom Target.

 

„Mit dem neuen TEM/ISO Modul können wir die Störfestigkeit unserer TAP-Interfaces auch in kritischsten Signalumgebungen garantieren, wobei die Geschwindigkeit der Signalübertragung jedoch nicht beeinflusst wird", freut sich Karl Miles, UK Sales Manager bei GOEPEL electronics UK. „Damit ergänzen wir unser Produktportfolio in diesem Segment um eine flexible und zuverlässige Standardlösung, welche vollkompatibel zum bestehenden SCANFLEX Sortiment ist. Diese Eigenschaften sichern unseren Kunden eine exzellente Adaptierbarkeit an verschiedenste Umgebungen und Interface-Konditionen".

Das TEM/ISO kann in jeden SCANFLEX® TAP-Transceiver der FXT-Serie verbaut werden und isoliert die differentiellen TAP-Signale zur Ansteuerung externer TAP Interface Cards (TIC). Es ist mit jedem TIC02/xx und jedem TIC03/xx kombinierbar und Pin-kompatibel zum bereits existenten TEM Modul. Diese Kompatibilität ermöglicht ein problemloses Upgrade existenter Applikationen.

Darüber hinaus macht die differentielle Ankopplung eine extrem sichere Datenübertragung über mehrere Meter Entfernung bei TCK Frequenzen bis 80MHz möglich. Ein Performanceverlust entsteht dadurch nicht, da die Laufzeitverzögerungen der Kabel und der Unit Under Test UUT durch die ADYCSTM Technik pro TAP individuell kompensiert werden. Im Zusammenhang mit dem SCANFLEX® TAP-Transceiver SFX/TAP8-FXT können bis zu acht unabhängige echt parallele TAP nunmehr potentialgetrennt angesteuert werden.

Die neuen TAP Extension Module werden von der industriell führenden Boundary Scan Software SYSTEM CASCONTM ab Version 4.53 vollständig unterstützt und ermöglichen Operationen für IEEE1149.1, IEEE1149.4, IEEE1149.6, IEEE1149.7, IEEE1532, JESD71 sowie JTAG- und einer Vielzahl von non JTAG Debug-interfaces. Die softwaremäßige Erkennung der TEM/ISO Module erfolgt vollautomatisch durch das AutoDetect Feature.

Durch die OEM-Kooperation mit allen führenden Anbietern von In-Circuit-Testern (ICT), Manufacturing Defect Analyzers (MDA), Flying Probern (FPT) und Funktionstestern (FCT) steht die neue Lösung auch sofort für die Produktion zur Verfügung.

www.goepel.com


Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

embedded world 2024
09. bis 11. April
zur Terminübersicht...
Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung