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Temperiertes Testen von Elektronikbaugruppen PDF
News - Baugruppen
Montag, den 06. September 2010 um 09:24 Uhr

Hatec-Run-inTemperiertes Testen von Elektronikbaugruppen

06. September 2010 - Durch den Einsatz von Thermoboxen als Werkstückträger und von Paternoster-Modulen bietet die hatec GmbH, Bad Aibling, jetzt ein völlig neues, hocheffizientes Konzept für das temperierte Testen von Elektronikbaugruppen in der Serienfertigung. Tunneldurchlaufanlagen oder das aufwendige Beschicken von Temperierschränken entfallen, die Anlage ist modular und kann individuell - auch nachträglich - an jede Fertigungsgröße angepasst werden, vom Einzelmodul bis zur Großanlage.

Im Gegensatz zu Tunneldurchlaufanlagen oder Temperierschränken werden die Baugruppen in Thermoboxen im PTM Temperiermodul (PTM = Paternoster Temperier Modul) auf die gewünschte Prüftemperatur gebracht und dann der Teststation zugeführt. Durch den Transport und Test der Baugruppen in Thermoboxen reduziert sich der temperierte Bereich auf ein Minimum, woraus ein hoher Durchsatz, extrem kurze Umrüstzeiten und eine hohe Energieeffizienz resultieren. Innerhalb von Minuten können sowohl offene als auch geschlossene Baugruppen auf Temperaturen von -40 °C bis +150 °C gebracht und Run In, Burn In, Life Test oder Stress Screening durchgeführt werden.

Die enorme Flexibilität des Konzepts bietet im Gegensatz zu herkömmlichen Lösungen völlig neue Ansätze für die Serienprüfung von Baugruppen. Zudem können alle bekannten und etablierten Teststrategien umgesetzt werden.

Im Bild sichtbar (von links nach rechts): Grundausbaustufe mit der Beladestation, dem PTM Temperiermodul, dem Testmodul und dem Rücktransport der Boxen.

Die Grundmodule können beliebig aneinandergereiht werden.

www.hatec.net
 

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