News - Baugruppen- und System-Test

Flying-Prober-Technologie mit Hochfrequenz-Tests

10. August 2016 - Seica hat auf der vom 1. bis 4. August 2016 stattfindenden NI Week Konferenz in Austin sein neues Pilot4D V8 HF System vorgestellt. Die einzigartige Lösung verbindet die Flying-Probe-Technologie mit Hochfrequenz-Tests. Die hochpräzisen Tastköpfe des Pilot V8-System kontaktieren selbst winzigste Bauteile bis herab zu 008004-Chips.

In diese Tastköpfe wurden Hochfrequenz-Mess-Systeme integriert, die HF-Signale bis zu 1,6 GHz verifizieren können. Zahlreiche Innovationen in Hard- und Software flossen in die neue Lösung, um die für diese Hochleistungsmessungen erforderlichen elektrischen Randbedingungen zu erfüllen.

Zu den jetzt möglichen Messungen zählen Taktfrequenz, Anstiegs- und Abfallzeiten sowie Setup- und Holdzeiten kritischer Signale. Das am Messestand präsentierte System Pilot4D V8 HF verfügt über eine integrierte LabVIEW/TestStand-Schnittstelle. Natürlich umfasst das Testsystem auch herkömmliche ICT-Fähigkeiten, die Seicas neues Pilot4D V8 HF letztendlich zu einem einzigartigen Kombinationstester mit ICT-, Funktions- und HF-Test-Fähigkeiten machen.

www.seica.com/

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