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Umfassende PAM-4-Analyse-Lösung

29. September 2015 - Tektronix präsentiert ein umfassendes Set an Analyseinstrumenten für die neuen PAM-4-Modulationsmessungen, das sowohl optische als auch elektrische Schnittstellen unterstützt. Die neuen Instrumente unterstützen sowohl das Echtzeit-Oszilloskop DPO70000SX (70 GHz) als auch das Sampling-Oszilloskop DSA8300. Dadurch können die richtigen Ergebnisse unabhängig von der für eine bestimmte Anwendung erforderlichen Instrumenten-Konfiguration mit höchster Präzision und Genauigkeit sichergestellt werden.

PAM-4 wird durch die IEEE-P802.3bs-Arbeitsgruppe in den neuesten 400-Gigabit-Ethernet-Standard für elektrische und optische 400-G-Schnittstellen (gewöhnlich 8 x 50 G) aufgenommen. Im Vergleich zur traditionellen NRZ-Signalkodierung mit zwei Amplituden erhöht die Signalkodierung von PAM-4 mit vier Pegeln die Signalkomplexität erheblich und schafft im Hinblick auf die Leistung und Rauschempfindlichkeit neue Anforderungen an die Testausrüstung.

Die Fähigkeit, PAM-4-Signale von 13 Gigabaud bis 56 Gigabaud zuverlässig zu charakterisieren, ist ein zentraler Aspekt für die Verbreitung dieser neuen Modulations-Methode in der Branche.

Die Analyse der Multilevel-Signalkodierung bei PAM-4 erfordert ein Oszilloskop mit geringem Rauschanteil und gutem Signal-Rausch-Verhältnis, um die verschiedenen (Bit-) Zustände präzise zu erfassen und zu analysieren. Die DPO70000SX-Oszilloskope von Tektronix verwenden das Verfahren des asynchronen Zeit-Interleaving, um eine beispiellose rauscharme Messerfassung mit bis zu 30 Prozent geringerem Rauschanteil als bei konventionellen Frequenz-Interleaving-Oszilloskopen zu bieten.

Die Analyse optischer PAM-4-Messungen profitiert ebenfalls von rauscharmen Messungen. Da die optische Messdatenerfassung durch das Sampling-Oszilloskop der DSA8300-Reihe unterstützt wird, bietet Tektronix jetzt die rauschärmste und empfindlichste Messdatenerfassung, die auf dem Markt aktuell verfügbar ist – selbst bei vollständiger Taktrückgewinnung. Dank der neuen Maßstäbe für die rauscharme Messdatenerfassung, die das optische Modul 80C15/CRTP von Tektronix, das mit TDEC- und SR4-Konformitäts-Messfunktionalitäten ausgestattet ist, setzt, eignet es sich besonders gut für die optische PAM-4-Analyse.

„Angesichts des schnellen Vordringens der PAM-4-Techniken in aktuelle und zukünftige IEEE-Standards reagiert Tektronix auf den Bedarf von Kunden nach geprüften Messanalyseinstrumenten“, erklärt Brian Reich, General Manager Performance Oscilloscopes, Tektronix. „Unsere umfassende PAM-4-Lösung sowohl für die elektrische als auch optische Analyse, die für zwei erstklassige Messgeräte geboten wird, bietet Ingenieuren, die 100-G- oder 400-G-Geräte konstruieren, die Prüf- und Entwicklungsinstrumente, die sie für die PAM-4-Entwicklung benötigen, und bietet gleichzeitig die rauschärmste Messdatenerfassung und höchste Bandbreite der Branche.“

Das PAM-4-Analyse-Set bietet u. a. folgende Vorteile: Analyse vollständiger Wellenformen oder korrelierender Wellenformen, Referenzlevel-Einstellungen für Pass/Fail-Analysen bei Multilevel-Schwellen, numerische Rise/Fall-Zeiten für jedes LSB-, MSB-Level und integrierte Taktrückgewinnung mit PAM-spezifischen PLL-Modellen von Tektronix.

Das vollständige Sortiment der 100-G- und 400-G-Testlösungen von Tektronix wird vom 28. – 30. September auf dem ECOC 2015 Symposium in Valencia (Spanien) auf Stand 435 präsentiert.

Preise und Verfügbarkeit

Die PAM-4-Analyse-Lösungen für die Oszilloskop-Modelle DSA8300 und DPO70000SX von Tektronix sind ab dem viertel Quartal 2015 erhältlich. Zentrale Analyseinstrumente, die bestehende DPOJET- oder 80SJNB-Lösungen um die PAM-4-Analyse erweitern, sind ab €7.650 erhältlich (unverbindliche Preisempfehlung).

www.tektronix.com/

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