News - Baugruppen- und System-Test

Modul zum Test von GigaBit-Schnittstellen

09. März 2015 - GÖPEL electronic hat ein universell adaptierbares Testmodul für die Prüfung verschiedener High Speed I/O (HSIO) Interfaces entwickelt. Das ChipVORX Modul FXT-X3/HSIO4 ermöglicht das Testen auf Baugruppenebene, quasi von innen heraus. Das Modul lässt sich sowohl im Labor als auch in der Produktion einsetzen. Unterstützt werden dabei die Schnittstellen GBit Ethernet, PCIe, USB 3.0 sowie SATA mit Übertragungsraten im GigaBit-Bereich.

Das Modul wird seriell angesteuert und kann an jeden Test Access Port (TAP) angeschlossen werden. Herzstück des Moduls ist ein FPGA der Firma Xilinx, wodurch alle dafür vorhandenen ChipVORX Modelle genutzt werden können. Damit kann das Modul wahlweise mit spezifischen Testfunktionen für die unterstützten Interfaces ausgestattet werden.

Durch vier Steckplätze für Adapterkarten ist das Modul völlig frei konfigurierbar. Darüber hinaus können mit individuellen Adapterkarten auch spezifische Interfacearten angepasst werden. Die Boundary Scan Software SYSTEM CASCON ermöglicht die automatische Testerzeugung und Testausführung. Als Prüffunktionen können Bit Error Rate Tests (BERT) sowie statische Augendiagramme ausgeführt werden. Dies macht das FXT-X3/HSIO4 zu einem flexiblen externen Instrument für verschiedenste Testanforderungen und schafft klare Vorteile gegenüber klassischen Funktionstests.

www.goepel.com/

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