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Göpel zeigt neue Testlösungen auf der Embedded World 2010 (Update) PDF
News - Baugruppen
Montag, den 08. Februar 2010 um 07:11 Uhr

Göpel zeigt neue Testlösungen auf der Embedded World 2010 (Update)

08. Februar 2010 - Auf der Embedded World 2010 in Nürnberg wird GÖPEL electronic seine neusten Lösungen aus den Technologiebereichen JTAG/Boundary Scan und Automotive Test vorstellen. Das Unternehmen zeigt in Halle 10.0 auf Stand 524 innovative Mess- und Prüftechnologien für die Elektronikentwicklung und -produktion sowie Automobilelektronik.

Das Hauptaugenmerk im Bereich JTAG/Boundary Scan wird auf Weiterentwicklungen der revolutionären Emulationstechnologie VarioTAP® liegen, welche die weltweit erste Verschmelzung von Boundary Scan Test und JTAG Emulation darstellt. VarioTAP® ermöglicht eine signifikante Erhöhung von Testabdeckung und Minimierung von Flash-Programmierzeiten. So werden auf der Embedded World u.a. die VarioTAP®-Unterstützung weiterer Prozessortypen bekanntgegeben. Weitere Neuvorstellungen aus dem Haus GÖPEL electronic aus den Bereichen Boundary Scan Hardware und Software werden zu sehen sein.

Der Geschäftsbereich Automotive Test Solutions zeigt intelligente programmierbare Multibus-Controller der Serie 61 zur Kommunikation via CAN, LIN, FlexRay oder mehrerer verschiedener Bussysteme. Es handelt sich dabei um eine komplett neue Generation von Kommunikationsschnittstellen auf Basis eines Power-PCs. Des Weiteren zeigt GÖPEL electronic Live-Applikationen seiner LVDS- und FlexRay-Komponenten. Auch die Vorteile der universellen Software-Suite myCAR als Bediensoftware zur Steuergeräte-Kommunikation und Diagnose werden anhand von Applikationsbeispielen demonstriert.

www.goepel.com
 

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