News - Baugruppen- und System-Test

Desktop-Tester für Embedded System Access

26. April 2013 – GÖPEL electronic stellt eine Reihe neuer Features für die Desktop-Tester der JULIET-Familie vor. Die Systeme unterstützen nun auch sämtliche Embedded System Access (ESA) Technologien zur High-Speed In-System-Programmierung von Flash, PLD und MCU, sowie zum strukturellen und funktionalen At-Speed-Boardtest. Dazu gehören neben dem traditionellen Boundary-Scan-Verfahren auch Strategien wie Prozessor-Emulation auf Basis VarioTAP  oder Chip Embedded Instruments auf Basis der ChipVORX-Technologie.

Neuerungen gibt es auch im Bereich der System-Optionen: So sind jetzt Universalkassetten zur schnellen Prototyp-Adaption, ein automatisierter Öffnungsmechanismus und ein pneumatischer Lock-Mechanismus verfügbar. Darüber hinaus bieten alle JULIET-Systeme jetzt die gleiche Nutzeroberfläche wie die RAPIDO In-Line Programmer, wodurch sämtliche Produktionssysteme einheitlichen Bedienkonzepten folgen.

„Die JULIET-Tester adressieren insbesondere den Bereich der flexiblen Low-Volume-Produktion, werden aber auch zur Fehlerdiagnose in der Reparatur sowie für spezielle Kalibrierungsprozeduren eingesetzt. Die neuen Features unterstützen die deutliche Steigerung von Sicherheit, Produktivität und Fehlerabdeckung der Systeme“, freut sich Alexander Beck, Team Manager Integration in der JTAG/Boundary-Scan-Division bei GÖPEL electronic. „Durch den Einsatz des vorkonfektionierten JULIET-Testers entfallen zeitraubende Integrationen für kostenintensive Sonderlösungen, und das Prozess-Handling wird insgesamt effektiver“.

Die modularen JULIET-Systeme (JTAG Unlimited Test) vereinen die gesamte Testelektronik, sowie die Grundmechanik in einem kompakten Auftischgerät und verfügen über ein spezielles Interface für Wechselkassetten zur schnellen Adaption an unterschiedliche Prüflinge (UUT).

www.goepel.com/

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