Die führende Informationsplattform zum Test von Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  
 
 

Hauptmenü

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick

Info-Bereich

Weblinks

Schwerpunkt

Banner
OptiCon AOI-Systeme von GÖPEL sind „BScan ready" PDF
News - Baugruppen
Donnerstag, den 03. Dezember 2009 um 07:00 Uhr

OptiCon AOI-Systeme von GÖPEL sind „BScan ready"

03. Dezember 2009 - Die AOI-Systeme der OptiCon-Serie von GÖPEL electronic tragen seit kurzem das Attribut „BScan ready". Dahinter verbirgt sich die Option elektrische Tests mittels JTAG/Boundary Scan als sinnvolle Ergänzung in die AOI-Systeme zu integrieren. Durch die Verknüpfung von zwei Testverfahren in einem Prüfgerät besteht nun die Möglichkeit, Fehler zu erkennen, welche mit AOI allein nicht detektierbar sind.

Dazu gehört u.a. die Prüfung von verdeckten Lötstellen an hochkomplexen Bausteinen wie BGAs (Ball-Grid-Arrays). Damit steigt sich die Testabdeckung für Flachbaugruppen auf nahezu 100%.

Der Einsatz des Boundary Scan Prüfverfahrens erfolgt durch die Integration der entsprechenden Hard- und Softwarekomponenten im AOI-System von GÖPEL electronic. Aufgrund einer flexiblen Kontaktiereinrichtung ist die Adaptierung des Prüflings mit Betriebsspannung und JTAG-Bus im In-Line Prozess oder als Stand-Alone Lösung möglich.

Optional ermöglicht eine am Kamerakopf befindliche Tastnadel auch das Prüfen von Schaltkreisen, deren Anschlüsse nicht mit scanfähigen Bauelementen verbunden sind (z.B. Kontakte eines BGAs, die direkten Kontakt mit einem Steckverbinder haben). Die zur Versorgung des Prüflings eingesetzte programmierbare Stromquelle überwacht im Vorfeld des Tests den Strombedarf des Prüflings, erkennt Kurzschlüsse in der Spannungszuführung und vermeidet somit eine Beschädigung des Testobjekts bzw. verfälschte Prüfergebnisse.

Die strategisch innovative Kombination, welche eine sehr hohe Testabdeckung auf komplexen elektronischen Baugruppen garantiert, wurde durch die doppelte Kompetenz der Firma GÖPEL electronic auf den Gebieten des JTAG/Boundary Scan und der Automatischen Optischen Inspektion möglich.

www.goepel.com
 

Dieser Kommentar wurde geschlossen, es sind keine weiteren Kommentare zu diesem Thema möglich.

Aktuelle Termine

EMV 2012
07. bis 09. Februar 2012
zur Terminübersicht...
 
embedded world 2012
28.Februar bis 01. März 2012
Nürnberg
zur Terminübersicht...
 
DATE 2012
12. bis 16. März 2012
zur Terminübersicht...
< Anzeigen >

Partner-Websites

Banner

RSS News-Feeds

.
All-about-Test

Social Media

twitter_follow_420x50px
 
linkedin_follow_420x50px