phoenix|x-ray präsentiert hochauflösendes µAXI

Für eine größtmögliche Fehlererkennung bei der automatischen Röntgeninspektion (AXI) bestückter Leiterplatten sind kleine Bildausschnitte mit Mikrometerauflösung, 360° Rotation, bis zu 70° Schrägdurchstrahlung, höchste Anfahrgenauigkeit von wenigen Mikrometern sowie zuverlässiger Wiederholbarkeit unbedingt notwendig. Doch bei der konventionellen, inline durchgeführten AXI wird die Inspektionstiefe normalerweise von der Durchsatzrate der SMT-Linie bestimmt. Gerade bei einem hohen Mix an kleinen Serien kann daher ein offline eingesetztes hochauflösendes µAXI-System, das die oben genannten Qualitätskriterien erfüllt, oft die bessere Wahl sein. Auf der diesjährigen SMT in Nürnberg präsentiert die Produktlinie phoenix|x-ray von GE Sensing & Inspection Technologies auf Stand 411 in Halle 7 seine x|act-Technologie für eine einfache und intuitive CAD-basierte µAXI mit sehr hoher Vergrößerung und daher vergleichsweise geringer Schlupf- und Pseudofehlerrate.
Ein weiteres Highlight auf dem Messestand ist der phoenix|x-ray nanome|x mit 180 kV high power nanofocus Röntgenröhre für besonders hochauflösende Röntgeninspektion und Computertomographie. Sein neuer temperaturstabilisierter Digitaldetektor sorgt für eine besonders brilliante Bildqualität.

Um die Programmierzeit zu minimieren, importiert x|act die CAD-Daten der bestückten Leiterplatte und erstellt daraus ein Modell, das einerseits als Übersichtskarte zur einfachen Navigation dient, andererseits eine Zuweisung von Prüfstrategien für die einzelnen zu inspizierenden Bauteile ermöglicht. Die Prüfstrategien beinhalten alle zur Inspektion notwendigen Informationen. Sie können für jeden Lötstellentyp erstellt, angepasst und in einer Bibliothek abgelegt werden. Nach der Zuweisung der Prüfstrategien werden die erforderlichen Ansichten und das Prüfprogramm automatisch erstellt.
www.phoenix-xray.com