|
||||
| Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestFederkontaktstifte für 2,54mm Rastermaß
Durch die Eigenfertigung der Pin-Spitzen können nahezu alle vorstellbaren Geometrien gefertigt werden. Derzeit ist ein Spektrum von über 30 verschiedenen Pinspitzenformen verfügbar. Die Federkontaktstifte sind mit den gängigen am Markt verfügbaren Hülsen kompatibel. www.yamaichi.eu/ Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
|
© All about Test seit 2009 |
||||
How to resolve AdBlock issue? 
17. Dezember 2019 – Yamaichi Electronics erweitert das Portfolio der gefederten Pins für große Rastermaße. Bisher ist Yamaichi Electronics für hohe Präzision im Bereich der Halbleitertestsockel mit Kontaktstiftabständen von 0,25mm bis 1,27mm bekannt. Um die Anforderungen bei der Kontaktierung von bestückten Baugruppen in In-Circuit Tests (ICT) zu erfüllen, sind jetzt auch Federkontaktstifte für das Rastermaß von 2,54mm verfügbar.