|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestSimulationsfunktion für DDR-Speicher12. März 2019 - Keysight hat den PathWave Memory Designer angekündigt, eine neue DDR-Speichersimulationsfunktion, die Teil des PathWave Advanced Design System (ADS) 2019 ist. Die neue Funktion erleichtert es Entwicklern, simulierte Daten mit tatsächlichen Messergebnissen zu vergleichen, was die Entwicklung beschleunigen kann. DDR-Speicherdesigns werden mit jeder neuen Generation komplexer. Gleiches gilt für die Simulations- und Testkonfiguration, was zu längeren Simulations- und Testaufbauzeiten führt. Die zusätzliche Komplexität erschwert die Korrelation von Simulations- und Testdaten, was zu weniger Vertrauen in die Konstruktion, längeren Fehlerbehebungszyklen und verpassten Lieferterminen führt. PathWave ADS Memory Designer verbindet Simulations- und Testworkflows und adressiert gängige Herausforderungen beim DDR-Speicherdesign mit neuen Workflows. Diese automatisieren Routineaufgaben und nutzen Datenanalysen, um einen schnelleren, aussagekräftigen Einblick in Simulationsdaten zu erhalten. Design und Test verbinden "Eine bessere Effizienz im Produktentwicklungs-Workflow zu erreichen, ist eine Herausforderung für die Branche, insbesondere die Verbindung von Design und Test", sagt Todd Cutler, Vice President und General Manager of Design and Test Software bei Keysight. "PathWave von Keysight bietet Ingenieuren eine Methode zum Sammeln, Teilen und Analysieren von Test- und Messdaten. Keysights Memory Designer für PathWave ADS bietet einen neuen Workflow für die Simulation von DDR, der den Entwicklungszyklus verkürzt und Projektverzögerungen reduziert". Keysight PathWave unterstützt Kunden bei der Beschleunigung von Engineering-Workflows durch eine leistungsstarke Software, die agiles, vernetztes Design und Testen ermöglicht:
www.keysight.com/ Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |