Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Baugruppen- und System-Test

Testadapter für SMARC 2.0 Module

Yamaichi SMARC 2.001. November 2017 - Der Testadapter für den Computer-on-Module-Standard SMARC von Yamaichi Electronics eignet sich auch für die aktuelle Version SMARC 2.0. Der Testadapter realisiert die perfekte Ausrichtung der Kontakte und ermöglicht eine 100-prozentige Zuverlässigkeit der Kontaktierung. Durch die Verwendung von Federkontaktstiften ist eine sehr hohe Anzahl an Kontaktzyklen erreichbar.

SMARC ist die Abkürzung für Smart Mobility ARChitecture, eine von der Standardization Group for Embedded Technologies e.V. (SGET) veröffentlichten Spezifikation für Computer-on-Module (CoMs). Der Vorteil von SMARC gegenüber anderen CoMs liegt im geringen Stromverbrauch, der durch den Einsatz von ARM-Prozessoren oder anderen energiesparenden Prozessoren möglich wird.

Der SMARC-Testadapter von Yamaichi Electronics ist ein impedanzkontrolliertes Testsystem, welches der SMARC-Spezifikation der SGET folgt. Er ist ein äußerst zuverlässiges und langlebiges Kontaktsystem. Da der Adapter zur Prüfung großer Stückzahlen ausgelegt ist, lässt sich der Durchsatz von Prüfmustern beträchtlich steigern. Dies senkt die Kosten pro getestetem Modul. Darüber hinaus ist der Adapter einfach und sicher zu bedienen.

Dieser Testadapter der Baureihe YED900 von Yamaichi Electronics eignet sich für den Einsatz bei Evaluierungstests, der Modulprogrammierung und bei Zuverlässigkeitstests von -30 °C bis zu +85 °C.

Die Kontaktierung bei diesem Adapter wird mittels Compression Mount Technology (CMT) erreicht, sodass keine Lötarbeiten erforderlich sind. Ausgewählte Werkstoffe wie z. B. luftfahrttaugliches Aluminium, PEEK und PEEK-Keramik machen den Adapter zu einem robusten Prüfwerkzeug. Der Prüfadapter ist als Plug&Play-fähiges Prüfhilfsmittel einsetzbar.

Zuverlässige Kontaktstift-Technologie

SMARC-Module haben Gold-Pads als Kontaktoberfläche. Die beste Kontakt-Technologie für solche Oberflächenbereiche sind Feinraster-Federkontaktstifte. Die Federkontaktstifte, bekannt aus der Halbleiterprüfung, haben eine sehr lange Lebensdauer. Die Lebensdauer des SMARC-Testadapters ist spezifiziert mit 50.000 mechanischen Zyklen.

Zum Kontaktieren der Modul-Pads wird üblicherweise eine konisch geformte „Plunger“-Kontaktfederspitze verwendet. Durch diese Kontaktform kann gewährleistet werden, dass am Kontakt-Pad des Moduls nur ein sehr kleiner Abdruck entsteht.

Neben Modul-Testadaptern bietet Yamaichi Electronics außerdem Test-Contactoren und Burn-In Sockel an. Die dabei verwendeten Federkontaktstifte für Rastermaße ab 0,30mm werden von Yamaichi Electronics selbst hergestellt. Die Ultra-Fine-Pitch- sowie Kelvin-Kontakte garantieren wie alle Produkte zuverlässige Kontaktierung bei sehr hohen Kontaktzyklen und geringem Kontaktwiderstand.

www.yamaichi.eu/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

embedded world 2024
09. bis 11. April
zur Terminübersicht...
Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung