|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-Test400G PAM-4 Messungen mit Sampling-Oszilloskop22. März 2017 - Tektronix stellt neue optische Module für das Sampling-Oszilloskop DSA8300 vor. Diese zeichnen sich durch die derzeit höchste Masken-Test-Empfindlichkeit und das niedrigste Rauschen aus. Zudem beinhalten sie neue Funktionen, mit denen sich die Produktionskapazität und die Ausbeute beim Produktionsstart der aktuellen 100G Designs erhöhen lassen. Das Unternehmen präsentiert außerdem Verbesserungen für seine 400G Testlösung, darunter ein IEEE Ethernet Standard-orientiertes TDECQ (Transmitter and Dispersion Eye Closure) PAM-4 und entsprechende Support-Messungen für optische Prüfungen. Die neuen Module und Funktionen werden, zusammen mit den umfassenden Lösungen von Tektronix für die optische Charakterisierung und Validierung von 100G/400G-Produkten, auf der OFC Optical Networking and Communication Conference and Exhibition gezeigt, die noch bis zum 23. März 2017 in Los Angeles, Kalifornien stattfindet. "Da die 100G Design mittlerweile in die Produktion gehen, bekommt die Ausbeute höchste Priorität", sagt Brian Reich, General Manager, Performance Oscilloscopes, bei Tektronix. "Unser sehr niedriges Eigenrauschen ermöglicht zuverlässigere Testergebnisse und eine Verbesserung der Produktionsausbeute bei optischen Komponenten und Verbindungstechnik. Gleichzeitig sind wir nach wie vor führend bei 400G, da wir umfassende Tools und Funktionen für eine tiefgehende Analyse und ein effektives Debugging für die neue Generation der Datenübertragung anbieten können." Werden die neuen optischen Module 80C17 und 80C18 in das Sampling-Oszilloskop DSA8300 installiert, dann wird eine Maskentest-Empfindlichkeit von -14 dBm erreicht, welche die Anforderungen für den für 28 GBd PAM-4 Standard mehr als erfüllt. Gleichzeitig wird die derzeit beste Rauschleistung von 3,9 µW erzielt und ein großer Wellenlängenbereich unterstützt. Mit dem zweikanaligen 80C18 können die Testingenieure den Durchsatz und die Kapazität in der optischen Produktion verdoppeln. Beim Ausfall eines Bauteils kann der Signalinhalt mit den Analyse-Tools von Tektronix sowohl im Hinblick auf das Rauschen als auch auf den Jitter aufgetrennt werden, so dass die Ingenieure das zugrunde liegende Problem besser verstehen können. Verfügbarkeit und Preis Die optischen Module 80C17 und 80C18 und die Erweiterungen der 400G Testsoftware sind voraussichtlich ab Ende April 2017 verfügbar. Die Preise für die neuen optischen Module beginnen ab € 68.300 (unverbindliche Preisempfehlung des Herstellers in den Vereinigten Staaten). www.tektronix.com/ Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |