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Dienstag, den 31. Januar 2012 um 08:00 Uhr |
Kompakte, vielkanalige Fehlersimulation
 31. Januar 2012 - Die SMART Electronic Development GmbH stellt mit der TCFS-BOX ein neues Mitglied in der MCM-SCALE Testerlinie vor. Bei der TCFS-BOX handelt es sich um eine kompakte, CAN-steuerbare Fehlersimulation, mit der unterschiedliche Fehlerszenarios geschaltet werden können. Funktionale Absicherung von Hardware und Software, spezifische Diagnosetests oder Fail-Safe-Tests können an bis zu 70 Pins von elektronischen Steuergeräten einfach simuliert werden.
Eine kompakte Bauform, automotive Spannungsversorgung für stationären oder mobilen Betrieb sowie ein zusätzliches Buchsenfeld für manuelle Signalkonfiguration oder Monitoring runden das Gerät ab.
Folgende Fehlerbilder sind schaltbar:
- Open-Load
- Kurzschlüsse zwischen mehreren Pins
- Kurzschluss zum Fehlerrail 1 bzw. 2
Unter Fehlerrail versteht man eine Sammelschiene, auf die ein oder mehrere Pins gleichzeitig geschaltet werden können. Die Vorgabe des Potentials eines Fehlerrails kann entweder vom MCM-SCALE Testsystem vorgegeben werden oder über Buchsen von extern erfolgen.
6 Pins können Ströme von max. 8 A schalten. Die restlichen 64 Pins können Ströme von bis zu 3 A schalten. Da die Box modular aufgebaut ist, kann diese jederzeit erweitert bzw. an jede beliebige Anzahl von Pins und Pin-Typen angepasst werden.
www.smart-gmbh.de
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