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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-Testelectronica 2012: Schneider & Koch stellt neues Desktop-AOI-System vor23. Oktober 2012 - Zur electronica 2012 bringt Prüftechnik Schneider & Koch sein neues Desktop-AOI-System LaserVision Compact 4 auf den Markt. Trotz seiner Kompaktheit verfügt das AOI-Tischsystem der neuesten Generation über Eigenschaften, wie sie bisher nur in großen In-Line-Systemen zu finden waren. Zu den Neuerungen gehören unter anderem ein drehbarer Kamerakopf, ein neues Beleuchtungskonzept und ein größerer Arbeitsbereich. Mobilfunktest mit hohem Durchsatz22. Oktober 2012 – Anritsu stellt mit dem MT8870A ein neues Universal Test-Set für Mobilfunkendgeräte vor. Es wurde als kostengünstige Testumgebung für die neueste Generation von Smartphones, Laptops, Tablet-PC und Funkmodulen entwickelt. Das neue MT8870A eignet sich für unterschiedlichste Technologien, angefangen von einzelnen TRx-Modulen bis hin zu LTE, WCDMA, CDMA2000, 1xEVDO und GSM. Ein einzelnes MT8870A-Mainframe kann bis zu vier Sende-/Empfangsmodule (TRx-Module) enthalten. Boundary Scan Funktion für FlexRIO Karten von National Instruments19. Oktober 2012 - GÖPEL electronic hat eine Boundary-Scan-Option für die PXI/PXIe-FlexRIO-Karten von National Instruments entwickelt. Die Lösung ermöglicht die Nutzung der FPGA-basierenden FlexRIO-Hardware als Boundary-Scan-I/O-Modul. Damit erschließen sich Anwendern eine breite Palette an ergänzenden Teststrategien zur entscheidenden Verbesserung der strukturellen Testtiefe bei Prototypen oder in der Produktion. MBtech Group eröffnet Prüfstand für Antriebssysteme17. Oktober 2012 - MBtech Group hat ihren hochmodernen E-Drive Antriebs-System-Prüfstand (ASP) für Elektro- und Hybridfahrzeuge in Mönsheim offiziell eingeweiht. Nach wenigen Monaten Bauzeit nimmt die neue Testeinrichtung nun pünktlich ihren Betrieb auf. Kunden können auf dem Prüfstand ab sofort reale Tests von einfachen Komponententests bis zu komplexen HV-Verbundtests und sogar extrem realistische Erprobungsfahrten unter nahezu allen klimatischen Bedingungen perfekt nachstellen. Automatischer Applikationsprogramm-Generator für Chip Embedded Instruments16. Oktober 2012 - GÖPEL electronic hat einen automatischen Applikationsprogramm-Generator (Automatic Application Program Generator - AAPG) zum Einsatz von Chip Embedded Instruments auf Basis seiner ChipVORX-Technologie entwickelt. Der neue Generator ist eine weitere Option für die integrierte JTAG/Boundary-Scan-Software-Plattform SYSTEM CASCON und ermöglicht die automatisierte Erzeugung kompletter Application Scripts für Chip Embedded Test & Measurement Instruments. IPTE: 20 Jahre Automatisierungslösungen für die Elektronik- und Mechanikindustrie11. Oktober 2012 - Im Jahr 1992 gründeten fünf Ingenieure in Belgien ein kleines Unternehmen für Test-Automatisierung und legten damit den Grundstein für die spätere IPTE Factory Automation (FA), Integrated Production and Test Engineering. Mittlerweile hat sich das Unternehmen zum globalen Systemlieferanten für individuelle und flexible Automatisierungslösungen gemausert. Aktuell beschäftig IPTE weltweit rund 550 Mitarbeiter und erzielte im Geschäftsjahr 2011 einen Umsatz von 77 Millionen Euro. LTE-Carrier-Aggregation-Software für Signalisierungstester11. Oktober 2012 – Anritsu kündigt die erste protokollbasierende Carrier-Aggregation-Testumgebung der Branche für LTE advanced an. Das Softwareupgrade erweitert die bis zu vier zur Verfügung stehenden Funkfrequenzen im MD8430A und bietet - unter Nutzung von zwei 2x2 MIMO Component Carriers (CCs) - 300 Mb/s Datendurchsatz in Downlink-Richtung. Ausgestattet mit dieser Option, kann der MD8430A moderne Mobilfunkgeräte mit der doppelten Datenrate der meisten modernen LTE-Netzen prüfen. Weitere Beiträge ...
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