|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestImpulsmess- und Stimulus-Funktionen für Test von Radar- und High-Speed-Designs12. September 2013 – Mit Einführung der Baureihe MS4640B erweitert Anritsu seine zu den Vektornetzwerkanalysatoren (VNAs) gehörende VectorStar-Familie. Durch modernste Messfunktionen unterstützt der MS4640B den Anwender beim Test und der Charakterisierung von Baugruppen und Subsystemen für den Radarbereich und die High-Speed Datenübertragung.
Automatische Optische Inspektion von THT Baugruppen04. September 2013 ― SEHO Systems GmbH, ein Hersteller von automatisierten Lötsystemen und kundenspezifischen Sonderanlagen hat gemeinsam mit der IVT Industrial Vision Technologies GmbH ein AOI System für die optische Inspektion von THT Baugruppen entwickelt. Die SEHO ViproInline erlaubt eine schnelle und präzise Inspektion von durchkontaktierten Lötstellen und kann zur Feststellung von Löt- und Bestückungsfehlern flexibel nach dem Wellen- oder Selektivlötprozess in eine vollautomatische Produktionslinie integriert werden. LXinstruments verstärkt Vertriebsaktivität bei elektrischem Sicherheitstest03. September 2013 - Um seine Kunden in Zukunft noch besser und schneller beraten zu können ist LXinstruments, ein Testsystemintegrator und Spezialist für elektrischen Sicherheitstest, eine Vertriebskooperation mit dem selbständigen Diplom-Ingenieur Joergen Pedersen aus Bad König eingegangen. Durch diese Kooperation wird die bereits seit einem Jahr bestehende lose Zusammenarbeit weiter ausgebaut und auch für Interessenten und Kunden sichtbar gemacht.
Test der Sprachqualität und Call-Performance von VoLTE30. August 2013 - Spirent Commmunications, Spezialist für das Testen mobiler Netzwerke, Services und Geräte, hat die Integration der feldbasierten Nomad HD Lösung mit dem CS8 Mobile Device Tester sowie dem 8100 Mobile Device Test System angekündigt. Damit wird das Testen der Call-Performance und der Sprachqualität von VoLTE im Labor möglich. Carrier und Anbieter von Mobilgeräten können nun das gleiche Messsystem in Live-Netzen wie auch im Labor nutzen, um die Zufriedenheit der Teilnehmer mit VoLTE-Services sicherzustellen.
PC-Logikanalysator mit zusätzlichen Bus-Trigger Modi26. August 2013 - HACKER – DatenTechnik bietet den neuen PC-basierenden Logikanalysator TL2236B+ von ACUTE an, der über 36 Kanäle, eine 4GHz Timing-Analyse, eine 200 MHz State-Analysis und zusätzliche Trigger Modi für SD3.0, eMMC4.5 und Serial Flash verfügt. Der TL2236B+ ist mit einem USB2.0 Port (1.1 kompatibel) ausgestattet und kann an jeden Desktop oder Laptop unter Windows XP, Vista, Win7+8 (32/64-Bit) betrieben werden.
Embedded Test und Validierung für Haswell Prozessoren von Intel20. August 2013 - Zeitnah zur Einführung der vierten Intel-Prozessor-Generation gibt GÖPEL electronic die Unterstützung dieser neuen Mikroarchitektur mit Codenamen „Haswell“ im Rahmen der SYSTEM-CASCON-Plattform zur Validierung und Test komplexer Prozessor-Boards bekannt.
GPS Technologies übernimmt Vertretung für SAKI in Deutschland15. August 2013 - GPS Technologies mit Sitz in Langen bei Frankfurt hat die die Vertretung für SAKI Produkte in Deutschland übernommen. Damit kann das Unternehmen ab sofort optische Inspektionssysteme für Lotpasten (SPI – Solder Paste Inspektion), 3D-Pre- und Post-Reflow-AOI sowie automatische 3D-Röntgensysteme anbieten. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |