Export von Testpattern auf der Basis von IEEE1450 (STIL)

22. Juli. 2010 - GÖPEL electronic präsentiert ein neues Test Vektor-Interface für die Boundary Scan Softwarewareplattform SYSTEM CASCON. Der neuentwickelte Vektor-Link basiert auf dem Standard IEEE1450 - Test Interface Language - (STIL) und ermöglicht den Export von Testpattern zur nahtlosen Ankopplung insbesondere an Chip-Tester.

„Eine ganze Reihe namhafter Chip-Hersteller setzen unser System bereits zur Validierung von Prototypen auf Board-Level ein. Diesen Anwendern können wir nun mit dem universellen STIL-Interface eine Lösung zur nahtlosen Migration kompletter Testpattern auf vorhandene Produktionstester bieten", freut sich Thomas Wenzel, geschäftsführender Gesellschafter der GÖPEL electronic GmbH. „Gleichzeitig ermöglicht diese Systemerweiterung auch eine noch bessere  Kompatibilität und Vernetzungsfähigkeit unserer Werkzeuge zu vorhandenen EDA- und CAT-Umgebungen auf Chip- und Board-Level."

Zentrales Element der IEEE1450 Schnittstelle ist ein entsprechender Export-Postprozessor, welcher vorhandene Testpattern in das entsprechende STIL-Format transferiert. Dabei werden außer den seriellen Scan-Daten auch die parallelen Vektoren einschließlich Expect- und Mask-Werte, sowie notwendige Timing Informationen exportiert.

Über den Standard IEEE1149.1 Tests hinaus unterstützt der Export-Postprozessor auch den Transfer von IEEE1149.6 Operationen zum Test von Advanced Digital Networks.

Auf dieser Grundlage können die mit SYSTEM CASCON^TM generierten und verifizierten Testpattern nahtlos auf den Produktionstester migriert werden. Dabei spielt es keine Rolle, ob die Testpattern automatisch per ATPG oder manuell per Scripting erzeugt wurden. Auch ein Import von IEEE1445 (DTIF) Simulationsdaten in die Systemumgebung mit nachfolgender Validierung und späterem Export als IEEE1450 ist möglich. Identische Cross-Transfers werden prinzipiell ebenfalls für JESD71 (STAPL), SVF (Serial Vector Format), TDS (TSSI) und weitere Formate unterstützt.

Der neue Vektor-Link für IEEE1450 ist in der Boundary Scan Software SYSTEM CASCON^TM ab Version 4.5.3 standardmäßig integriert und wird per Lizenzmanager freigeschaltet.