Skalierbarer Halbleiter-Tester und drei neue digitale Kanalkarten

13. Dezember 2011 – Verigy stellt mit der Smart-Scale-Serie eine innovative “intelligente” Generation von Testern mit Per-Pin-Funktionalität vor. Sie ist voll kompatibel zu Verigys bewährter V93000 Plattform. „Smart Testing” bedeutet, dass an jedem Pin die jeweilige Taktfrequenz an die erforderliche Datenrate des zu testenden Bausteins (DUT) angepasst werden kann. Kombiniert mit anderen wichtigen Leistungsmerkmalen wie etwa Stromversorgungsmodulation, Jitter Injection und Protokollkommunikation können systemähnliche Stresstests jetzt auf ATE-Ebene durchgeführt und so die Fehlermodellabdeckung verbessert werden.

„Mit unseren Testsystemen und Pin Cards der innovativen V93000 Smart-Scale-Generation sind wir Vorreiter bei intelligenten Testmethodiken, die Kunden neue Lösungen zur Reduktion der Testkosten ermöglichen“, sagt Hans-Juergen Wagner, Executive Vice President of SOC Test bei Verigy, ein Unternehmen der Advantest Group.

Jede der vier Smart-Scale-Testerklassen – bezeichnet mit A, C, S und L – hat einen unterschiedlich großen Testkopf. Dies ermöglicht Verigy, für jede spezifische Applikation des Kunden die effizienteste Lösung anzubieten.

Wagner ergänzt: “Da die Testerklassen kompatibel sind, können Anwender ihre Halbleiterbauteile schnell und einfach von einer auf eine andere Smart-Scale-Klasse portieren, falls sich das Produktionsvolumen von ICs im Verlauf ihres Lebenszyklus ändert. Kein anderer Hersteller von automatisierten Testsystemen bietet diese Möglichkeit an.“

Verigys einzigartiges Konzept bietet mehr Möglichkeiten beim Paralleltest sowie die industrieweit erste Full-Performance Testlösung für Wafer Sort - und erfüllt damit kritische Leistungsanforderungen zum Test moderner SOC-Bausteine (System-on-Chip), SiP-Komponenten (System-in-Package) und WLCSPs (Wafer-Level Chip-Scale Packages).

Neben seinen V93000 Smart-Scale-Testern bringt Verigy auch drei neue digitale Kanalkarten auf den Markt. Die neue Pin Scale 1600 Digitalkarte und Pin Scale 1600-ME Card (Memory Emulation) bieten die industrieweit meisten Funktionen auf jedem digitalen Kanal. Zusätzlich zu ihren Datenraten von DC bis 1,6 Gbps (Gigabit pro Sekunde) – doppelt so schnell wie frühere Generationen – verdoppeln oder vervierfachen diese Karten auch die Integrationsdichte bisheriger Pin-Cards. Die neuen, hochintegrierten Karten mit kleinem Formfaktor enthalten Verigy Clock-Domain-per-Pin, Protocol-Engine-per-Pin, PRBS per Pin und SmartLoop Testfähigkeiten für symmetrische High-Speed-Schnittstellen. Ferner bieten sie Präzisions-DC-Fähigkeiten und erlauben asynchrones Testing für hohe Multi-Site-Effizienz und Concurrent Testing.

Verigys neue Pin Scale 9G Card macht At-Speed-Tests erschwinglich. Durch Kombination von Datenraten von bis zu 8Gbps mit der gleichen Per-Pin-Vielseitigkeit wie der Pin Scale 1600 maximiert diese Karte die Pin-Nutzung bei gleichzeitiger Minimierung ungenutzter Ressourcen. Die Pin Scale 9G Card unterstützt bidirektionale Fähigkeiten auf allen Pins sowie massebezogene und differentielle Betriebsarten. Außerdem eignet sich die Karte sowohl für Pattern- wie auch für Pattern-lose Tests, um die große Mehrheit von Testanforderungen zu adressieren. Angefangen bei parallelem I/O-Testing für Designverifikation bis hin zu seriellem Physical Layer (PHY) Testing in der Massenfertigung.