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All-about-Test - News-Archiv

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  • Frohe Weihnachten und ein gutes neues Jahr!

    Frohe Weihnachten und ein gutes neues Jahr! 24. Dezember 2011 - Das gesamte Team von All-about-Test wünscht Ihnen und Ihren Familien frohe Weihnachten sowie ein erfolgreiches und glückliches neues Jahr. Wir machen nun Weihnachtspause und sind ab dem ...
  • Doppelnetzteile CPX400D/CPX400DP mit 840 W

    Doppelnetzteile CPX400D/CPX400DP mit 840 W 23. Dezember 2011 - Die Doppelnetzteile der Serie CPX400 von TTi werden durch die neuen Modelle CPX400D und die programmierbare Variante CPX400DP abgelöst. Diese zeichnen sich durch eine Leistung bis 840 Watt (...
  • Advantest installiert tausendstes T2000 Testsystem

    22. Dezember 2011 - Advantest hat bei einem Hersteller von integrierten Halbleiterprodukten für die Computer- und Kommunikationstechnik das tausendste T2000 Testsystem installiert. Das System wird wie die anderen bei diesem Kunden vorhandenen T2000 Syste...
  • Testfälle für die GSM-Erweiterung VAMOS

    Testfälle für die GSM-Erweiterung VAMOS 22. Dezember 2011 - Die im 3GPP-Standard spezifizierte GSM-Erweiterung VAMOS (Voice services over Adaptive Multi-user channels on One Slot) ermöglicht es, die Sprachkanäle einer GSM-Basisstation zu verdoppeln...
  • Grafische Bedienpanels zur Steuerung von Chip-Embedded-Instruments

    Grafische Bedienpanels zur Steuerung von Chip-Embedded-Instruments 21. Dezember 2011 - GÖPEL electronic hat seine Boundary-Scan-Softwareplattform SYSTEM CASCON um Features zur Generierung von grafischen Bedienpanels erweitert. Die neuen Optionen sind ...
  • Transientenrecorder für Baugruppentester

    Transientenrecorder für Baugruppentester 21. Dezember 2011 – Die REINHARDT System- und Messelectronic GmbH stellt mit dem TRA670 einen Transientenrecorder für seine In-Circuit- und Funktionstester vor, der mit einer Auflösung von 12 Bit und eine...
  • Steuergeräte virtuell erleben und testen

    Steuergeräte virtuell erleben und testen 20. Dezember 2011 - Um die Sicherheit und Zuverlässigkeit von Steuergeräten zu erhöhen, setzt die Automobilindustrie auf frühe, realistische Simulation. Mit dem neuen dSPACE Offline Simulator lassen sich vi...
  • Frühbucherpreis für EMV Kongress nur noch für kurze Zeit

    20. Dezember 2011 - Die Frühbuchertarife zum EMV Kongress gelten nur noch bis Donnerstag den 22.12.2011. Der Kongress bietet Expertenwissen über die neuesten Entwicklungen im EMV-Bereich und ein vielfältiges Themenspektrum. Die Kongressteilnehmer haben...
  • Digitales Tisch-Röntgengerät für die Produktion

    Digitales Tisch-Röntgengerät für die Produktion 19. Dezember 2011 - Das digitale Tisch-Röntgengerät „Stingray“ von Essemtec lässt sich schnell einrichten und einfach bedienen. Das kostengünstige Gerät ist optimal geeignet für Mess- und Pr...
  • Intertek Deutschland investiert in den Ausbau von Testkapazitäten für E-Mobilität und Batterien

    Intertek Deutschland investiert in den Ausbau von Testkapazitäten für E-Mobilität und Batterien 19. Dezember 2011 – Intertek investiert im 1. Halbjahr 2012 an seinem Standort Kaufbeuren (Bayern) mehr als 3 Millionen Euro in den Aufbau eines komple...
  • Automatisches, optisches TableTop Inspektionssystem

    14. Dezember 2011 - GPS Technologies GmbH präsentiert ein neues automatisches, optisches TableTop Inspektionssystem von CyberOptics. Das neue QX100 kombiniert alle Vorzüge und Fähigkeiten einer InLine Inspektion mit der Flexibilität eines TableTop Sys...
  • Low-Speed-CAN- und LIN-Schnittstellen

    Low-Speed-CAN- und LIN-Schnittstellen 16. Dezember 2011 – National Instruments bringt für die C-Serie das CAN-Schnittstellenmodul NI 9861 und das LIN-Schnittstellenmodul NI 9866 auf den Markt. Sie sind die neuesten Module der Produktfamilie NI-XNET ...
  • GÖPEL electronic integriert Boundary Scan in Testplattform von Rohde & Schwarz

    GÖPEL electronic integriert Boundary Scan in Testplattform von Rohde & Schwarz 15. Dezember 2011 - GÖPEL electronic hat im Rahmen einer OEM-Kooperation mit der Firma Rohde & Schwarz eine erweiterte Boundary-Scan-Option speziell für die R&...
  • Call for Papers für Kongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis“ – VIP 2012

    15. Dezember 2011 – Ab sofort läuft der Call for Papers für den 17. Technologie- und Anwenderkongress VIP 2012 von National Instruments, der am 24. und 25. Oktober 2012 wieder im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München stattfinden wird. Die Kurz...
  • Komplette Debug- und Testlösung für neue TriCore-Multicore-Architektur von Infineon

    Komplette Debug- und Testlösung für neue TriCore-Multicore-Architektur von Infineon 14. Dezember 2011 - PLS Programmierbare Logik & Systeme stellt mit der Universal Debug Engine (UDE) 3.1.7. die erste Debugger-Lösung für die von der Infineon Te...
  • ATEcare mit neuem DEMO-Center

    14. Dezember 2011 – Die ATEcare Service GmbH & Co.KG hat bereits Mitte des Jahres ein neues DEMO-Center bezogen. Mit einer komplett aufgestellten Linie von SPI-, AOI-, X-Ray-, ICT- und FKT-Lösungen wurden bereits die ersten Kunden bei ATEcare für ...
  • Zuverlässige UV-Lack-Kontrolle

    Zuverlässige UV-Lack-Kontrolle 13. Dezember 2011 - Sensible Schaltkreise vieler KFZ-Elektronikbaugruppen werden durch einen speziellen Klarlack vor Feuchtigkeit und Flüssigkeiten geschützt. Diese Versiegelung ist sicherheitsrelevant und damit besond...
  • Skalierbarer Halbleiter-Tester und drei neue digitale Kanalkarten

    Skalierbarer Halbleiter-Tester und drei neue digitale Kanalkarten 13. Dezember 2011 – Verigy stellt mit der Smart-Scale-Serie eine innovative “intelligente” Generation von Testern mit Per-Pin-Funktionalität vor. Sie ist voll kompatibel zu Veri...
  • Testsystem für Elektro- und Stellmotoren

    Testsystem für Elektro- und Stellmotoren 12. Dezember 2011 - GÖPEL electronic hat das Spektrum seiner Funktionstestsysteme mit CARMEN, um eine Lösung speziell zur Überprüfung der mechanischen Eigenschaften von Elektro- und Stellmotoren erweitert. ...
  • Hochspannungstest mit In-Circuit- und Funktionstester

    12. Dezember 2011 – REINHARDT System- und Messelectronic GmbH hat für seine In-Circuit- und Funktionstester die neue Hochspannungsmatrixkarte HSM670 entwickelt, die einen Spannungsbereich bis zu 1500 V abdeckt. Somit lässt sich mit den Testsystemen de...

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