|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikPXI-Fehlersimulationsmodule für differentielle, serielle Schnittstellen28. September 2015 – Pickering Interfaces erweitert sein Angebot im Bereich der PXI Fehlersimulation um zwei neue Module (40-200 und 40-201) für den Test von differentiellen seriellen Schnittstellen. Das PXI Modul 40-200 ist für Schnittstellen mit niedrigerer Datenrate wie CAN und FlexRay ausgelegt. Für hohe Datenraten wird das Fehlersimulationsmodul 40-201 eingesetzt, das für AFDX und 1000BaseT Ethernet geeignet ist. Shaun Fuller, Produktmanager bei Pickering, erklärt den Einsatzbereich der Karten folgendermaßen: "Serielle Schnittstellen finden eine umfangreiche Anwendung in elektronischen Systemen, in denen Unterbaugruppen miteinander kommunizieren, speziell in sicherheitsrelevanten Bereichen wie der Automobilelektronik. Gerade in diesen Anwendungsfeldern müssen die Hersteller das Verhalten der Systeme auf Kommunikationsfehler, Unterbrechungen und andere Mechanismen testen, um sicherzustellen, dass das System sicher und berechenbar reagiert. Die neuen PXI-Fehlersimulationskarten versetzen den Hersteller in die Lage, Fehlermechanismen an den gängigsten differentiellen, seriellen Schnittstellen nachzubilden." Beide neuen Module ermöglichen die Nachbildung von Fehlermechanismen, die Unterbrechung und Schlüsse an Signalpfaden beinhalten, sowie Fehlerkategorien, bei denen Datenleitungen mit externen Fehlersignalen wie Versorgungsspannung oder Bezugspotential kurzgeschlossen werden. Im Standardmodus schützt der Software Treiber vor kritischen Fehlern, um ein versehentliches Verschalten ungewollter Pfade, wie einen Schluss von Versorgungsspannung mit Bezugspotential, zu verhindern. Ein spezieller Modus erlaubt die völlig freie Wahl der Fehlermechanismen. Diese PXI-Fehlersimulationsmodule finden Ihre Anwendung im Test sicherheitskritischer Kommunikationssysteme, wie sie im Bereich von Automobil und Luftfahrt eingesetzt werden. Jedes Modul ist mit einer Auswahl an verfügbaren Kanälen erhältlich, um dem Anwender die passendste Lösung zu ermöglichen. Beide Module werden von eBIRST, Pickerings neuem Testwerkzeug für Schaltmodule, unterstützt. Dieses externe Testwerkzeug vereinfacht das schnelle Auffinden von Defekten in Pickering Schaltmodulen. Die durch den Test erkannten Relais werden in einer grafischen Darstellung der Leiterplatte hervorgehoben angezeigt. Zum Anschluss der Module steht ein einfach zu handhabender 78-poliger Sub-D Stecker zur Verfügung, der von Pickerings (nicht differenzieller) Standardkabel- und Verbindungstechnik unterstützt wird. Darüber hinaus kann Pickering Interfaces Adapter für differentielle Schnittstellen zu anwendungsspezifischen Steckern entwickeln und liefern. Alle von Pickering Interfaces gefertigten Produkte werden mit einer 3-jährigen Garantie und einer Langzeitverfügbarkeit ausgeliefert. www.pickeringtest.com/ Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |