|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
![]() HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und Messtechnik
Digital-I/O-Karte mit programmierbaren Eingangsfiltern
Es stehen 4 isolierte 8 bit Eingangsports und 4 isolierte 8 bit Ausgangsports zur Verfügung. Als Besonderheit bietet die ADQ-22 die Möglichkeit die digitalen Eingänge auch zeitgesteuert abzufragen bzw. Signale zeitlich getaktet auszugeben. Über ein Adapterkabel mit Zusatzslotblech können weitere 8 TTL-Digital-Ein-/Ausgänge genutzt werden. Die 32 isolierten Eingänge haben eine Schmitt-Trigger-Charakteristik gemäß IEC 61131-2 (Typ 1) und sind für eine max. Eingangsspannung von 35 V ausgelegt. Alle isolierten Eingänge sind mit Status-LEDs bestückt und können bei Bedarf via Interrupt-Ereignis auf Bitmuster-Änderung oder Bitmuster-Gleichheit überwacht werden. Die 32 isolierten Ausgänge können bis zu 0,6 A je Kanal treiben. Zur Erhöhung des Ausgangsstroms ist eine Parallelschaltung mehrerer Ausgänge möglich, sodass für viele Anwendungen keine externe Treiberstufe nötig ist. Zur Versorgung der Ausgänge muss eine externe Spannungsquelle im Bereich 11..35 V mit ausreichend Leistung bereitgestellt werden. Die Ausgangstreiber sind mit einem thermischen Überlastschutz, Strombegrenzung, Kurzschluss-Schutz und einer Unterspannungs-überwachung ausgestattet. Sobald ein Grenzwert über- oder unterschritten wird, wird dies durch eine Error-LED auf der Karte signalisiert und ein Interrupt generiert. Die ADQ-22 Karte gibt es neben einer Standard-PCI-Express-Variante auch als CompactPCI Serial Version. Der noch junge CompactPCI Serial Standard basiert auf der seriellen PCI-Express-Architektur wurde jedoch in Analogie zum bewährten CompactPCI-Standard für den industriellen Einsatz angepasst. Im Lieferumfang der ADQ-22-Serie befindet sich Treibersoftware für Windows XP/Vista/7/8 (Linux auf Anfrage) sowie umfassende Programmierunterstützung inkl. Beispiele für C++, C#, Visual Basic und Pascal. Eine Bibliothek mit Virtual Instruments (VIs) für LabVIEW ist in Vorbereitung. Weitere News zum Thema: |
![]() Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
|
||
© All about Test seit 2009 |