PXI Schaltmodule mit integriertem Relais-Selbsttest

16. September 2009 - Pickering Interfaces stellt mit der Einführung von BIRST^TM (Built-In Relay Self Test) eine Lösung für die Verifikation und Diagnose von komplexen Schaltsystemen speziell bei PXI vor. Eine ganze Reihe von Pickering Interfaces PXI Modulen sind mit integriertem BIRST^TM verfügbar.

David Owen, Business Development Manager von Pickering Interfaces: "Historisch gesehen haben komplexe Schaltsysteme wie VXI und Pickering Interfaces GPIB System 10/20 einen gewissen Grad an Selbsttest für Relais integriert. Bei PXI wurde aber wegen des limitierten Platzes sowie aus Kostengründen auf Selbsttestmöglichkeiten verzichtet. Pickering Interfaces hat eine verbesserte Testmethode entwickelt, die es erlaubt, mit minimalem Kostenaufwand und wenig zusätzlichem Platzbedarf, diesen Test in ihre Schaltmodule zu integrieren. BIRST^TM findet nicht nur defekte Relais, es findet auch Relais, die durch ein erhöhten Kontaktwiderstand in naher Zukunft das Ende ihrer Lebensdauer erreichen werden. Die Überwachung des Kontaktwiderstandes und somit der Lebensdauer ist sehr viel effektiver als das Zählen von Schaltzyklen, da hier die tatsächliche Belastung eines Relaiskontaktes nie berücksichtigt werden kann. BIRST^TM ist ein wertvolles Werkzeug, um unnötige Servicearbeiten zu vermeiden und hilft die Zuverlässigkeit der Testsysteme zu steigern."

Künftig wird BIRST^TM auch für weitere Pickering Interfaces PXI Module und die LXI Produktfamilie verfügbar sein. Welche Module mit BIRST^TM verfügbar sind, ist auf der Internetseite von Pickering Interfaces nachzulesen.