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News - Allgemeine Test- und Messtechnik

Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs

Advantest T639121. August 2017 – Advantest hat mit dem RND440 Type 3 Testadapter eine optionale Erweiterung für das T6391 Display-Treiber-IC-Testsystem (DDI) vorgestellt. Die Erweiterung ermöglicht einen massiv parallelen Test von CoF-Packages (Chip-on-Film) für die neuste Generation von Smartphone-Displays. Der Adapter wurde speziell entwickelt, um auf die immer höheren Pin-Zahlen von DDIs, höhere Geschwindigkeiten der Schnittstellen und hoch integrierte Funktionen hochauflösender Displays reagieren zu können.

Aus verschiedenen Gründen werden bei Mobiltelefonen immer häufiger fortschrittliche CoF-Bauteile anstatt konventioneller CoG-ICs (Chip-on-Glass) eingesetzt. So nutzen heutige Smartphones oftmals einen OLED-Bildschirm mit abgerundeten Kanten, der CoF-Packages voraussetzt.

Neben dem CoF-Packaging erfordern auch andere Entwicklungen bessere Testlösungen. Hierzu gehören die steigende Anzahl an Ausgangs-Leitungen von DDIs für Smartphones, Tablet-Computer, Notebooks und andere Produkte mit LCD-Bildschirm sowie der zunehmende Einsatz von TDDIs (Touch Embedded Display Driver ICs).

Der neue RND440 Type 3 Adapter eignet sich sowohl für einen High-Speed-Wafer-Test mit hoher Pin-Zahl als auch für einen CoF-Test, der auch als Tape-Test bezeichnet wird. Dabei lassen sich alle elektrischen Komponenten innerhalb eines CoF-Packages prüfen. Diese enthalten in der Regel ein auf einem Basisfilm montiertes IC, mehrere passive Elemente und eine Signaleingangs-Schaltung. Letztere wird benötigt, um Daten empfangen und übertragen zu können. Der Adapter eignet sich für Substrate mit einer Größe von bis zu 440 mm. Durch die massiv parallele Testfähigkeit verdoppelt sich der Durchsatz gegenüber den auf dem Markt angebotenen Systemen für einzelne Bauteile.

"Das T6391 System ist das einzige hoch parallele Testsystem für DDIs und TDDIs", sagt Satoru Nagumo, der Executive Vice President der ADS Business Group von Advantest Corporation. "Unsere Testlösung bietet den Anwendern einen großen Produktivitätsvorteil sowie niedrigste Testkosten für DDIs und TDDIs sowohl in der Produktion als auch in Entwicklungs-Umgebungen."

Das Advantest T6391 System nutzt dasselbe Entwicklungs-Umgebungsmodell und die gleiche TDL-Programmiersprache, wie die anderen Mitglieder der T6300 Produktserie. Es ermöglicht allerdings schnellere Datenübertragungen und Berechnungen. Es ist die einzige Plattform, welche die in DDIs integrierten Touchsensor-Funktionen und Leistungsmanagement-IC-Funktionen (PMIC) prüfen kann. Es eignet sich für hochauflösende DDIs mit bis zu 3.584 Pins. Dies reicht auch für den Test der in HD- (High Definition), WXGA- und HD720-Displays verwendeten LCDs aus.

Das T6391 System unterstützt I/O-Pin-Frequenzen von bis zu 1,6 Gigabit pro Sekunde (Gbps). Durch die Erweiterung mit einem separaten Messmodul lassen sich auch Schnittstellen bis zu 6,5 Gbps testen, die in DDIs für Ultra-HD-Fernsehgeräte einschließlich der 4K-Generation (2160p) zum Einsatz kommen.

Der RND440 Type 3 Adapter wurde bereits Anfang des Jahres an erste Kunden ausgeliefert.

www.advantest.de/



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