Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Allgemeine Test- und Messtechnik

Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

CIE Logo26. Juli 2022 – Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung von Bestrahlungsstärke, Strahlungsdichte, Strahlungsintensität und Strahlungsfluss sowie die Instrumenten-Kalibrierung.

Darüber hinaus beschreibt der Bericht detailliert die physikalischen Effekte, die für spektralradiometrische Messungen und insbesondere die Abschätzung von Messunsicherheiten relevant sind. Die bei jeder Messung auftretenden Messunsicherheiten bestimmen für rückführbare Messwerte quantitativ die Genauigkeit der Kalibrierkette.

Der neue technische CIE-Report 250:2022 enthält grundlegende Messprinzipien und praktische Hinweise zur Spektralradiometrie optischer Strahlungsquellen im Wellenlängenbereich von 200 - 2500 nm. Er befasst sich in erster Linie mit den Messgrößen Bestrahlungsstärke, Strahlungsdichte, Strahlungsintensität und Strahlungsfluss sowie davon abgeleiteten Größen. Darüber hinaus gibt er einen detaillierten Überblick über physikalische Effekte, die für die Abschätzung von Messunsicherheiten relevant sind. Der unter Vorsitz von Dr. Tobias Schneider, Chief Scientist von Instrument Systems, entstandene Bericht bietet einen umfassenden Einblick in die relevante Terminologie und die Grundlagen der Kalibrierung spektralradiometrischer Messinstrumente. Er ist eine praktische Anleitung zum Identifizieren, Verstehen und Quantifizieren relevanter Messunsicherheitskomponenten und kann im Online-Shop der CIE erworben werden: www.techstreet.com/cie.

www.instrumentsystems.com/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

embedded world 2024
09. bis 11. April
zur Terminübersicht...
Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung