|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Allgemeine Test- und MesstechnikArbiträr-/ Funktionsgenerator für Ausbildung und einfache Testanwendungen01. April 2015 - Tektronix stellt mit dem AFG1022 einen Arbiträr-/Funktionsgenerator der Einstiegsklasse speziell für die Ausbildung und einfache Testanwendungen vor. Der AFG1022 bietet zwei Kanäle, eine Bandbreite von 25 MHz mit einer Ausgangsspannung von 1 mVpp bis 10 Vpp, eine vertikale Auflösung von 14 Bit und eine Frequenzauflösung von 1 µHz. Für anwenderdefinierte Signale steht eine Abtastrate von 125 MS/s und ein integrierter Speicher von 64 MB zur Verfügung. Darüber hinaus bietet das Instrument 50 integrierte Standardfunktionen und Arbiträrsignale mit Dauer-, Modulations-, Wobbel- und Burstmode, so dass sich nahezu alle Testanforderungen in der Basisausbildung abdecken lassen. Ein eingebauter 200 MHz Zähler mit 6-stelliger Auflösung ermöglicht zudem eine einfache und genaue Messung von Frequenz, Periode, Impulsdauer und Tastverhältnis. Der AFG1022 verfügt über eine intuitive Bedienoberfläche mit 3,95" TFT-Farbdisplay, Schnellauswahltasten und Drehknopf für eine schnelle Einstellung. Die kompakte Baugröße spart außerdem wertvollen Platz auf dem Labortisch. "Tektronix ist der festen Überzeugung, dass umfangreiche praktische Erfahrungen die Ausbildungsergebnisse deutlich verbessern", sagt Michael Ewald, General Manager Bench Products bei Tektronix. "Deshalb sind wir sehr bemüht, die Anforderungen der Hochschulen und Universitäten, wie ein sehr gutes Preis-/Leistungs-Verhältnis der Instrumente, integrierte Lernsoftware und eine einfache Verwaltung, zu erfüllen. Bei uns bekommen Ausbildungsstätten alle erforderlichen Testlösungen für die Grundausbildung aus einer Hand." Preis & Verfügbarkeit Der AFG1022 ist ab sofort erhältlich. Der Preis liegt bei €532. Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |