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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News170-GHz-Leistungsmessköpfe für D-Band-Messungen04. Dezember 2023 - Rohde & Schwarz erweitert sein Portfolio der thermischen Leistungsmessköpfe um die neuen R&S NRP170TWG(N) für präzise Messungen von Leistungspegeln im D-Band. Sie sind die einzigen HF-Leistungsmessköpfe auf dem Markt, die im Frequenzbereich von 110 GHz bis 170 GHz eine vollständige Rückführbarkeit auf nationale Metrologieinstitute (NMI) bieten – eine wichtige Voraussetzung für die Kommerzialisierung von Frequenzbändern. Die R&S NRP170TWG(N) Hardware reduziert Messrauschen und Drift und stellt somit höchste Messgenauigkeit und Benutzerfreundlichkeit sicher. Als vollständig kalibrierte Plug & Play-Messköpfe mit den Anschlussmöglichkeiten USB und LAN lassen sie sich problemlos in jeden Messaufbau integrieren. Hintergrund: Latenz und andere QoS-Parameter im 5G-Netz messenDa kritische Anwendungen wie Robotersteuerungen, selbstfahrende Fahrzeuge und Telemedizin immer stärker auf die mobile Kommunikation angewiesen sind, müssen Mobilfunknetzbetreiber und Systementwickler gewährleisten, dass Entscheidungen schnell und zuverlässig elektronisch übermittelt werden. Gelingt es nicht, eine zuverlässige Kommunikation mit geringer Latenzzeit (URLLC; Ultra Reliable Low Latency Communications) zu erreichen, könnte dies schwerwiegende Folgen haben und Verletzungen oder Schlimmeres verursachen. PXIe-Single-Slot-Embedded-Controller mit den PCIe-Gen-4-Leistungsmerkmalen30. November 2023 – Pickering Interfaces hat seinen neuen Single-Slot-PXIe-Embedded-Controller 43-920-001 vorgestellt. Das neue Modul, das auf der productronica, der führenden Fachmesse für die Elektronikfertigungsindustrie, erstmals vorgestellt wurde, bietet die weltweit ersten zukunftsfähigen PCIe-Gen-4-Leistungsmerkmale in einem Single-Slot-PXIe-Embedded-Controller. Der PXI-5 PXI Express-Hardwarespezifikation Rev.2.0-konforme Controller basiert auf einem Intel Core i5-Prozessor der 11. Generation mit 32 GB DDR4-Speicher und einer 1 TB m.2 NVMe SSD. 3D-Inspektionstechnologie für präzise Lotpastenkontrolle (SPI)29. November 2023 - OMRON hat auf der productronica neue Maschine für die 3D-Inspektion des Lotpastendrucks (Solder Paste Inspection, kurz SPI) vorgestellt. Etwa 70 Prozent aller Defekte im Bereich der Oberflächenmontagetechnologie und SMT-Fertigungslinien (Surface Mount Technology) treten während des Lotpastendrucks auf. Der neue VP-01G 3D-SPI verhindert derartige Druckfehler, indem er Mängel zuverlässig erkennt und verbesserte Druckbedingungen schafft. Inline-In-Circuit-Testsystem mit bis zu 5760 Kanälen28. November 2023 – Keysight Technologies stellt das neue Inline-Testsystem Keysight i3070 Serie 7i vor, ein automatisiertes In-Circuit-Testsystem (ICT), das eine erhöhte Kapazität und einen höheren Durchsatz bietet und es Herstellern ermöglicht, die komplexen Testanforderungen bei bestückten Leiterplatten mit einer hohen Knotenanzahl wirtschaftlich zu erfüllen. Der Tester zeichnet sich zudem durch einige neue Funktionen aus, wie schnelle Kurzschlusstests, integrierte Tests für Superkondensatoren und Kompatibilität zu den Vorgängermodellen. Spektroradiometer für den UV, VIS und NIR-Bereich27. November 2023 - Die Firma JETI präsentiert mit dem specbos 2501 ein Spektroradiometer, das sich durch eine kompakte Bauform, eine hohe Messgeschwindigkeit und eine gute Streulichtunterdrückung auszeichnet. Das specbos 2501 setzt auf bewährte Technologien mit optimierten und leistungsfähigeren Komponenten namhafter Hersteller. Entscheidende Neuerungen sind ein erweiterter Messbereich von 200 bis 1000 nm, eine spektrale Auflösung von 4 nm bei den Basismodellen und 2 nm bei der hochauflösenden Version (HiRes). Der Datenaustausch erfolgt wahlweise über die Schnittstellen USB-C, Bluetooth oder LAN/PoE. Ein robustes Aluminiumgehäuse ermöglicht den zuverlässigen Messbetrieb in industriellen Anwendungen und rauen Umgebungen. Neues 12-Bit-Oszilloskop von SIGLENT24. November 2023 - SIGLENT stellt sein neues Flaggschiff-Oszilloskop SDS7000A vor. Das SDS7000A bietet 4 analoge Kanäle mit Bandbreiten von 3 GHz und 4 GHz sowie 16 digitale Kanäle und erweitert das Anwendungsspektrum für komplexe Testanforderungen. Die maximale Abtastrate beträgt 20 GSa/s, die vertikale Auflösung beträgt 12 Bit (Hardware), der Standard-Erfassungsspeicher beträgt 500 Mpkte pro Kanal. Dieser kann auf 1 Gpkte/Kanal aufgerüstet werden. Das Grundrauschen beträgt bei einer Bandbreite von 4 GHz nur 220 μVrms und die Kurvenerfassungsrate erreicht bis zu 1 Million wfm/s. Das Oszilloskop verfügt über einen 15,6-Zoll-HD-Touchscreen, der viel Platz für die gleichzeitige Analyse verschiedener Signale bietet und somit zur Verbesserung der Effizienz beiträgt. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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