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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsTestsystem für 24GHz Blind-Spot-Radarsysteme16. März 2009 - Konrad Technologies stellt sein neuestes HF-Testsystem zum Serientest von 24GHz Blind-Spot-Radarmodulen vor, das bei einem führenden Automobilzulieferer in der Serienfertigung zum Einsatz kommt. Agilent zieht sich aus dem AOI- und AXI-Geschäft zurück19. Februar 2009 - Agilent konzentriert sich künftig verstärkt auf seine Kernkompetenzen und zieht sich bis Ende März 2009 aus den Bereichen AOI (automatische optische Inspektion) und AXI (automatische Röntgeninspektion) zurück. Die Bereiche In-Circuit- und Funktionstest werden weitergeführt. Schneller Kennlinien-Analysator für KomponententestFebruar 2009 - Yokogawa stellt einen U/I-Kennlinien Analysator mit hoher Plotgeschwindigkeit für den DC Parametertest an Halbleitern und optischen Komponenten vor. Test-Station für parametrische Bauteil-Messungen |
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