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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsApplikationsservices für Agilent AXI-Systeme02. Mai 2011 – MatriX Technologies, ein Anbieter von automatischen Röntgeninspektionslösungen, bietet neben seiner eigenen AXI Produktserie für die Elektronikfertigung (XT1300, X2 und X2.5) jetzt auch ein erweitertes Leistungspaket an Service- und Applikationsdienstleistungen für die Agilent Medalist 5DX und X6000 AXI-Systeme an. Agilent hatte im Zuge von Umstrukturierungen 2009 die Produktion von automatischen Röntgensystemen für die Lötstelleninspektion im SMT Bereich komplett eingestellt. LeCroy stellt 12 Bit Oszilloskope mit 55 dB Signal-Rausch-Abstand vor02. Mai 2011 – LeCroy stellt mit der Modellreihe WaveRunner HRO (High Resolution Oscilloscope) 6 Zi erstmals Oszilloskope mit einer 12 Bit Auflösung vor. Es sind zwei Modellen mit 400 MHz (HRO 64 Zi) und 600 MHz (HRO 66 Zi) Bandbreite erhältlich. Die WaveRunner HRO Oszilloskope erreichen durch die 12 Bit A/D-Wandler eine viermal höhere Vertikalverstärkungsgenauigkeit als konventionelle 8 Bit Oszilloskope. Entwicklungswerkzeug für NXPs Digital Signal Controller-Architektur29. April.2011 – Uneingeschränktes Dual-Core-Debugging unter einer Bedienoberfläche bietet die mit optimierten Test- und Debug-Funktionen für NXP’s hochintegrierte LPC4300 Dual-Core-SoC-Familie ausgestattete neueste Version 3.0.7 der Universal Debug Engine (UDE) von PLS. Skalierbarer JTAG/Boundary Scan Multifunktions-Controller29. April 2011 - GÖPEL electronic hat mit dem SFX/COMBO1149-(x) den ersten Desktop Kompakt-Controller im Rahmen seiner Boundary-Scan-Hardwareplattform SCANFLEX vorgestellt. Der SFX/COMBO1149 unterstützt sämtliche standardisierten Test- und Programmiertechniken wie IEEE1149.x oder IEEE1532, aber auch viele andere Verfahren wie Prozessor-Emulationstest, Highspeed I/O-Test, Protokoll basierenden Interface-Tests, Analogtests und Chip embedded Instruments. High-Speed 14 Bit PCI Express Digitalisierer mit 200 MS/s28. April 2011 - ADLINK Technology hat die PCI Express Digitalisiererkarte PCIe-9842 vorgestellt. Die Karte bietet einen Erfassungskanal für 200 MS/s bei 14 Bit Auflösung. Die PCIe-9842-Karte wurde speziell für Anwendungen wie Lichterfassung und Licht-Bereichsmessungen (LIDAR), Glasfasertests oder Radar-Signalerfassung entwickelt. Der analoge Eingang mit einem Signalbereich von ± 1 Volt an 50 Ω weist eine Bandbreite von 100 MHz auf. Livingston erweitert Angebot an Testgeräten und Instrumenten für LTE28. April 2011 - Als Sourcing-Spezialist für Testgeräte unterstützt Livingston die Einführung von Mobilfunknetzen auf LTE-Basis (Long Term Evolution), indem das Angebot an Testgeräten und Instrumenten für diesen Bereich weiter ausgebaut wird. Zudem hat Livingston eine Reihe verschiedener Miet-/Leasing-Optionen eingeführt, mit denen sich spezifische Bedürfnisse abdecken lassen. PXI-Digitizer mit 5 GHz Bandbreite und 12,5 GS/s Abtastrate27. April 2011 – National Instruments hat zusammen mit Tektronix den PXI-Digitizer NI PXIe-5186 mit einer Bandbreite von bis zu 5 GHz und einer Abtastraten von 12,5 GS/s entwickelt. Des Weiteren bringt National Instruments den Digitizer NI PXIe-5185 auf den Markt, der eine Bandbreite von 3 GHz und eine Abtastrate von 12,5 GS/s erreicht. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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