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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsKostengünstige LCR-Meter mit hoher Grundgenauigkeit21. September 2012 - ASM Automation Sensorik Messtechnik stellt neue LCR-Meter des Partners HIOKI für den Einsatz in Produktionslinien oder in der Herstellung von LCR-Bauteilen, Transformatoren und Spulen vor. Die neu aufgelegten Gerätemodelle HIOKI 3523(IM), 3533(IM) bzw. 3533-01(IM) zeichnen sich durch eine hohe Grundgenauigkeit von +/- 0,05% und einen günstigen Preis aus. Intertek eröffnet Batterie- und Umwelttestzentrum für E-Mobilität20. September 2012 – Intertek eröffnete in Kaufbeuren sein Europäisches Kompetenzzentrum für E-Mobilität. Über seine Prüflabore für Elektromobilität in Detroit, Grand Rapids und San Antonio (USA) sowie Shanghai (China) hinaus ist Intertek mit seinem Europäischen Kompetenzzentrum in Kaufbeuren nun in der Lage, Test- und Zertifizierungsanforderungen von in Europa ansässigen Unternehmen im Bereich E-Mobilität schnell und flexibel zu bedienen. Digitaltest stellt neue digitale Treiber/Sensorkarte vor19. September 2012 - Digitaltest stellt die neue HYB04 Treiber/Sensorkarte für seine automatischen Testsysteme vor. Mit 128 Pins pro Baugruppe kann nun jedes der Digitaltest Testsysteme auf die doppelte Anzahl hybrider Pins ausgebaut werden. Das bedeutet auch eine wesentliche Erweiterung u. a. auch für das MTS30 System mit seinen bisher begrenzten 10 Slots. Das Board erlaubt eine schnelle und präzise Anwendung speziell für Low Voltage Anwendungen. ASSET integriert ScanWorks in PXI Express-Geräte von Teradyne19. September 2012 – ASSET InterTech und Teradyne haben die JTAG- und Boundary-Scan-Test-Leistungsmerkmale der ASSET ScanWorks-Plattform für eingebettete Instrumentierung jetzt auch in das PXI Express-basierte High Speed Subsystem (HSSub) von Teradyne integriert. Bereits im letzten Jahr haben ASSET und Teradyne kooperiert, um ScanWorks in die VXI-basierten Di-Series-Geräte von Teradyne zu integrieren. Portabler Low Cost USB 2.0 Protokollanalysator18. September 2012 - Teledyne LeCroy erweitert sein Spektrum an USB Protokollanalysatoren um ein neues, kostengünstiges Gerät. Das Modell Mercury T2 ermöglicht die Analyse von Datenraten bis 480 Mbit/s (USB 2.0 High-Speed) und ist durch seine sehr kompakte Bauform und die Versorgung über den USB Bus (Bus powered) ideal für den mobilen Einsatz geeignet. Keithley erweitert SourceMeter SMU-Familie um drei neue Modelle18. September 2012 - Keithley Instruments hat seine System-SourceMeter SMU-Instrumente (Source Measurement Unit) der Serie 2600B um drei neue kostengünstige Geräte für Benchtop-Anwendungen und den Einsatz in Forschung und Entwicklung erweitert. Neue Funktionen ermöglichen höhere Produktivität und einfachere Bedienung. Die SMU-Instrumente zeichnen sich durch eine 6-1/2-stellige Auflösung, eine Software-Emulation der etablierten SourceMeter-Instrumente Modell 2400 von Keithley und eine USB 2.0 Schnittstelle aus. Boundary Scan-Controller für PXIe/Compact PCI Express17. September 2012 - JTAG Technologies erweitert seine Produktpalette der Boundary Scan IEEE Std. 1149.1 Controller. Die neue DataBlaster JT 37x7/PXIe Karte unterstützt das zunehmend populäre PXIe/Compact PCI Express Steckkartenformat, das in modernen automatischen Testsystemen zum Einsatz kommt. JTAG Technologies hat den neuen Boundary Scan-Controller speziell für die immer häufiger durchgeführte schnelle In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern, seriellen Speichern und CPLDs sowie den Test von komplexen digitalen Schaltungen entwickelt. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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