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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsCSA GROUP eröffnet neues Testlabor in Deutschland25. Oktober 2012 – Die CSA Group, ein weltweit führender Anbieter von Produktzertifizierungen und Testdienstleistungen, hat ein neues Testlabor in Straßkirchen (Niederbayern) eröffnet. Dort werden EMV-, Sicherheits- und Umwelttests für für vollständige Produkte und Komponenten von Fahrzeugen, Elektrowerkzeugen, Gartengeräten, Multimediageräten, Haushaltsgeräten sowie andere Produktkategorien durchgeführt. Das neue Labor ist in unmittelbarer Nähe zu den Einrichtungen der emitel AG und der mikes testingpartners GmbH, die im letzten Jahr von der CSA Group übernommen wurden. Grafische Boundary-Scan-Projektentwicklung für Multi-Board-Designs24. Oktober 2012 - GÖPEL electronic hat in Kooperation mit der Firma ASTER Technologies eine neue Version der ScanVision -Tool-Suite zur Visualisierung von Boundary-Scan-Designs entwickelt. Die Weiterentwicklung löst das Problem der Visualisierung von Multi-Board-Designs auf Layout- und Schaltplan-Ebene und ermöglicht dadurch eine deutliche Verbesserung der Arbeitsproduktivität sowohl bei der Projektentwicklung als auch bei der Fehleranalyse in der der Produktion. electronica 2012: On-Chip-Debugging für 16- und 32-Bit-Mikrocontroller24. Oktober 2012 - PLS Programmierbare Logik & Systeme präsentiert auf der electronica 2012 in Halle A6, Stand A12 ein besonders leistungsfähiges, universell einsetzbares Target-Zugangsgerät für das On-Chip-Debugging unterschiedlichster 16- und 32-Bit-Mikrocontrollern mit dem Universal Access Device 2pro (UAD2pro). Der Anschluss der Debug-Hardware an den PC wird über eine USB 2.0-Schnittstelle realisiert, wobei für alle Windows-Versionen ab Windows XP einfach zu installierende Gerätetreiber zur Verfügung stehen. 12-Bit Oszilloskope mit 16-fach höherer Auflösung23. Oktober 2012 – Teledyne-LeCroy stellt zwei neue Serien von High Definition Oszilloskopen mit 12-Bit Auflösung vor, die gegenüber herkömmlichen 8-Bit Oszilloskopen eine 16-fach höhere Auflösung bieten. Die Oszilloskope HDO4000 und HDO6000 mit HD4096 High Definition Technology erfassen Signale mit hoher Auflösung, hoher Abtastrate und geringem Signalrauschen. Die Darstellung der Signale erfolgt damit deutlich präziser und detailreicher als mit herkömmlichen 8-Bit Oszilloskopen. electronica 2012: Schneider & Koch stellt neues Desktop-AOI-System vor23. Oktober 2012 - Zur electronica 2012 bringt Prüftechnik Schneider & Koch sein neues Desktop-AOI-System LaserVision Compact 4 auf den Markt. Trotz seiner Kompaktheit verfügt das AOI-Tischsystem der neuesten Generation über Eigenschaften, wie sie bisher nur in großen In-Line-Systemen zu finden waren. Zu den Neuerungen gehören unter anderem ein drehbarer Kamerakopf, ein neues Beleuchtungskonzept und ein größerer Arbeitsbereich. Mobilfunktest mit hohem Durchsatz22. Oktober 2012 – Anritsu stellt mit dem MT8870A ein neues Universal Test-Set für Mobilfunkendgeräte vor. Es wurde als kostengünstige Testumgebung für die neueste Generation von Smartphones, Laptops, Tablet-PC und Funkmodulen entwickelt. Das neue MT8870A eignet sich für unterschiedlichste Technologien, angefangen von einzelnen TRx-Modulen bis hin zu LTE, WCDMA, CDMA2000, 1xEVDO und GSM. Ein einzelnes MT8870A-Mainframe kann bis zu vier Sende-/Empfangsmodule (TRx-Module) enthalten. Kombination von Kennlinienschreiber und Parameteranalysator22. Oktober 2012 - Keithley Instruments stellt sieben Messtechnik-, Software- und Testadapterkonfigurationen zur Charakterisierung von Leistungsbauteilen mit bis zu 3.000 V und 100 A mittels Parameter-Kurvenaufzeichnung vor. Diese sehr kostengünstigen Lösungen wurden speziell für die Charakterisierung der immer häufiger verwendeten Leistungshalbleiter optimiert, wie von Bauteilen auf der Basis der Siliciumcarbid (SiC)-und Galliumnitrid (GaN)-Technologie. Die Systeme eignen sich für die meisten Leistungsbauteile, Entwicklungsanwendungen und die Charakterisierungs- und Testanforderungen in der Forschung und Zuverlässigkeitsuntersuchung. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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