|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsÜberprüfung von Fotomasken der nächsten Generation auf Maskenfehler23. November 2012 - Advantest hat ein neues Messsystem für Maskenfehler entwickelt, das Mask DR-SEM E5610, welches ultrakleine Fehler bei Fotomasken erkennen und klassifizieren kann. Das E5610 nutzt die von Advantest entwickelte sehr stabile, vollautomatische Multi-Vision-SEM (Scanning Electron Microscope) Bilderfassungstechnologie für Fotomasken. Skalierbare LXI-Breitbandmatrix bis 500 MHz23. November 2012 - Mit der Einführung der modularen Breitbandmatrix 65-110 erweitert Pickering Interfaces erneut seine LXI Schaltlösungen. Die modulare Plattform 65-110 kann gleichzeitig bis zu 16 Mess- und Stimuli Kanäle auf der Y-Achse mit 16 aus maximal 104 möglichen X-Kanälen verbinden. Die nutzbare Bandbreite beträgt dabei 500 MHz. Für Anwendungen, bei denen weniger Y-Kanäle erforderlich sind, ist eine Variante mit nur 8 Y-Bus Leitungen erhältlich. Kontaktstift für Wegemessungen22. November 2012 – FEINMETALL hat eine Kontaktstift-Lösung entwickelt, mit der neben der elektrischen Kontaktierung des Prüflings auch eine Wegemessung realisierbar ist. Das Positions-Sensor-System besteht aus einem Federkontaktstift, einer Hülse und einem Positions-Sensor mit integriertem Potentiometer und ist dabei so schlank, dass es in ein gängiges 100 mil Raster eingebaut werden kann. Diese Lösung ist am Markt einzigartig und wurde zum Patent angemeldet. 100 Gbit/s Ethernet-Transceiver-Testlösung mit hoher Bandbreite22. November 2012 – Tektronix stellt das neue Phasen-Referenzmodul 82A04B für das Oszilloskop DSA8300 vor, das in Verbindung mit neuen elektrischen Sampling-Modulen einen typischen Instrumenten-Jitter von <100 Femtosekunden gewährleistet. Durch den sehr geringen Instrumenten-Jitter ist das DSA8300 damit das ideale Instrument für Design, Debugging und Charakterisierung von 100 Gbit/s Ethernet-Verbindungen mit bis zu 6 Kanälen, wie in der IEEE802.3ba und 32G Fibre Channel Testspezifikation definiert. Kabelmodell für MOST150 Tests21. November 2012 - Die MOST Cooperation (MOSTCO) - die Standardisierungsorganisation der MOST (Media Oriented Systems Transport) Technologie – hat eine Applikationsschrift erstellt, die ein Testboard für den Koaxial Physical Layer (cPHY) von MOST150 beschreibt. Basis ist ein Kabelmodell auf Grundlage verfügbarer diskreter Komponenten. Testmanagement-Software für Steuergeräte-Prüfung20. November 2012 - Mit der neuen Testmanagement-Software „SYNECT Test Management“ bietet dSPACE jetzt eine umfassende Lösung zur Verwaltung und Steuerung der immer weiter wachsenden Menge an Tests und Testdaten, die im Steuergeräte-Entwicklungsprozess entsteht. Model-in-the-Loop (MIL)-, Software-in-the-Loop (SIL)-, Processor-in-the-Loop (PIL)- und Hardware-in-the-Loop (HIL)-Tests sowie die zugehörigen Anforderungen lassen sich mit SYNECT Test Management konsistent verwalten, einfach zu Ausführungsplänen zusammenstellen und direkt für die Testausführung, z.B. mit dSPACE AutomationDesk, nutzen. Konformität von USB-Schnittstellen mit dem Oszilloskop verifizieren19. November 2012 — Mit der neuen R&S RTO-K21 USB 2.0 Compliance Test Software ermöglicht Rohde & Schwarz automatisierte USB 2.0 Konformitätstests mit seinen Oszilloskopen der RTO-Familie. Die Software läuft auf einem Steuer-PC und steuert das Oszilloskop und das Messobjekt, welches über einen Testadapter kontaktiert wird. Grafische Darstellungen helfen Schritt für Schritt bei der Durchführung der Messungen. Das automatisch erzeugte Messprotokoll dokumentiert die Testergebnisse inklusive Messdetails und Messkurvendarstellungen nach den Vorgaben des Anwenders in den Ausgabeformaten PDF, RTF und HTML. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |