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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsSignale und Parameter zentral verwalten17. April 2013 - SYNECT, die dSPACE Datenmanagement-Software für modellbasierte Entwicklung und Steuergerätetest, bietet ab sofort ein Modul für die zentrale Signal- und Parameterverwaltung. Mit dem neuen Modul lassen sich Signale, Parameter und Parameter-Sets über den gesamten Entwicklungsprozess hinweg zentral verwalten. Somit kann man diese Daten einfach innerhalb eines Teams, aber auch über Teams, Prozessphasen und Projekte hinweg wiederverwenden. Advantest steigt in den Markt für MEMS-Test ein17. April 2013 - Advantest ist in den schnell wachsenden Tester-Markt für MEMS-basierte Sensoren (Mikro-elektromechanische Systeme) eingestiegen. An verschiedenen Standorten von Freescale Semiconductor sind bereits V93000 Smart ScaleTM-Systeme installiert. Zusätzlich zum „Developement & Engineering Center der Sensor and Actuator Solutions Division“ von Freescale in Tempe, Arizona, hat der Halbleiterhersteller die V93000-Plattform von Advantest auch im Produktionstest seiner neuesten Generation von MEMS-basierenden Sensoren in Asien im Einsatz. 18-Slot PXI Express Chassis mit zehn hybriden Peripherieslots16.April 2013 - ADLINK Technology hat ein neues PXI Express-Chassis herausgebracht, das sich speziell für Applikationen mit hohen Anforderungen an Bandbreite, Kompaktheit und Kapazität eignet. Das 18-Slot PXI Express-Chassis mit zehn hybriden Peripherieslots enthält einen konfigurierbaren PCIe-Switch, der entweder zwei Links x8 oder vier Links x4 ermöglicht und damit die volle Bandbreite der PCIe Gen2 bietet. Das PXES-2780 erfüllt damit die Anforderungen einer Vielzahl von Test- und Messapplikationen, wie Wireless- und Hochfrequenztests. Viscom Quality Uplink jetzt auch für Röntgeninspektion16. April 2013 – Viscom hat seine Quality Uplink Funktion nun auch auf das hochauflösende Offline-Röntgeninspektionssystem X8011 PCB erweitert. Diese Funktion ermöglicht durch eine Verknüpfung der Prüfergebnisse von SPI, AOI, AXI und MXI eine vereinfachte Klassifikation und eine effektive Prozesskontrolle. Zu sehen ist die Lösung auf der Messe SMT Hybrid Packaging auf dem Stand 7-203. Schneller Flying Prober für die Prüfung von Leiterplatten15. April 2013 – Die Flying Prober der neuen RAPID Reihe von Seica sind für den Test von Leiterplatten spezialisiert. Die Serie basiert auf der Seica BBT Linie und der "Ultra Fast" Technologie. Die "Ultra Fast" Technologie nutzt ein innovatives Stimuli- und Messsystem, welches direkt auf den Flying Probes installiert ist und daher während des Tests sehr nah am Prüfling ist. Inline-Inspektion von Keramiksubstraten15. April 2013 – Wickon Hightech hat mit dem Speed Cube Sensor ein Inspektionssystem für den Pastendruck von Elektronik- und Dickschichtmodulen entwickelt. Mit Hilfe einer Farbzeilenkamera ist eine dreidimensionale Bildaufnahme möglich. Jedes Farbpixel, das mit diesem Scan aufgenommen wird, ist direkt mit der Höheninformation des aufgenommenen Produktes verknüpft. Der Sensor detektiert mit 20.000 Höhenstufen. Eine bisher übliche trigonometrische Rechenfunktion entfällt, denn die Farbinformation des Bildes stellt gleichzeitig die Höheninformation dar. Gestochen scharfe Röntgen-Livebilder und 10-Sekunden-CT12. April 2013 - GE Inspection Technologies präsentiert als Highlight der Produktlinie phoenix|x-ray auf der diesjährigen SMT in Nürnberg die leistungsstarken mikro- und nanofokus Röntgeninspektionssysteme microme|x und nanome|x. Mit ihrem Live-Overlay der Inspektionsergebnisse und CAD-Padinformationen bieten sie eine besonders schnelle und einfache Identifizierung defekter Lötstellen. Der hochdynamische DXR Detektor mit seiner Bildrate von bis zu 30 fps (frames per second) erlaubt eine besonders rauscharme und gestochen scharfe Bildqualität und zugleich CT-Scans elektronischer Bauteile in nur 10 Sekunden. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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