|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
CSA Group und BSI schließen strategische Allianz02. August 2013 – Die CSA Group, eine weltweite Test- und Zertifizierungsorganisation, und die British Standards Institution (BSI) sind eine strategische Allianz eingegangen. Dank der Allianz können Kunden aus dem elektromedizinischen Bereich einen vereinfachten Zugang zu globalen Märkten erreichen. Zusätzlich zur strategischen Allianz übernimmt CSA Group den Geschäftsbereich Prüfungen von BSI in Deutschland.
Einführungsveranstaltung zur Boundary-Scan-Technologie01. August 2013 - GÖPEL electronic veranstaltet am 05. September 2013 in Jena erneut einen „Boundary-Scan-Schnuppertag“. Diese Veranstaltung wurde für Einsteiger in die JTAG/Boundary-Scan-Technologie kreiert und stellt die prinzipiellen Einsatzmöglichkeiten der Test- und Programmiermethode vor. Auch der Vergleich zu anderen Prüftechniken und Kombinationsmöglichkeiten in bestehende Testsysteme werden thematisiert.
Praktisches Handbuch zum LXI Standard31. Juli 2013 - Pickering Interfaces, ein Hersteller von Schalt- und Signalkonditionierungslösungen präsentiert die dritte Ausgabe seines englischsprachigen LXI Handbuches "LXImate – A Practical Guide to the LXI Standard and Getting Started with LXI Devices". Das LXImate vermittelt eine Übersicht über den LXI Standard, der sich mit den Anforderungen und Lösungen bezüglich Funktionstest, Messtechnik und Datenerfassung beschäftigt.
Teledyne LeCroy präsentiert weltweit erstes 100 GHz Echtzeit-Oszilloskop29. Juli 2013 – Teledyne LeCroy hat das weltweit erste 100 GHz Echtzeit-Oszilloskop vorgeführt und erfolgreich Signale mit 100 GHz Bandbreite und 240 GS/s Abtastrate erfasst und dargestellt. Hochgeschwindigkeits-Oszilloskope sind wichtige Werkzeuge bei der Entwicklung von digitalen Hochgeschwindigkeits-Netzwerken und der immer weiter wachsenden Cloud-Computing Technologien. Call for Papers für MOST Konferenz 201426. Juli 2013 - Technologie-Experten der Automobilelektronik aus Industrie und Wissenschaft sind eingeladen, ihre neuesten Einblicke und Zukunftsvisionen zur MOST Technologie auf dem nächsten MOST Forum am 13. Mai 2014 in Stuttgart/Esslingen zu präsentieren. Im Anschluss an die jährliche Mitgliederversammlung der MOST Cooperation (MOSTCO - der Standardisierungs-Organisation der MOST, Media Oriented Systems Transport, Technologie) zeigt die eintägige Konferenz mit begleitender Ausstellung MOST basierte aktuelle und zukünftige Technologie- und Anwendungs-Highlights.
Inspektionssystem für Selektivlötstellen25. Juli 2013 - GÖPEL electronic bietet ein neues selbstentwickeltes Kamera- und Beleuchtungssystem zur optischen Inspektion von selektiven Lötstellen für die Integration in externe Prüfzellen an. Das Integrationspaket beinhaltet eine 4 Megapixel-Kamera BUZZARD mit GigE-Interface, eine Multispektralbeleuchtung, einen PC und Software. Tektronix erweitert Mixed-Signal-Oszilloskop-Familie24. Juli 2013 – Tektronix stellt neue Performance-Oszilloskope der MSO/DPO70000DX Serie vor. Die Serie umfasst Modelle mit 23 GHz-, 25 GHz- und 33 GHz-Bandbreite sowie leistungsfähige Werkzeuge für die Fehlersuche in digitalen und analogen Schaltungen. Das Unternehmen kündigt auch den derzeit schnellsten und rauschärmsten Oszilloskop-Tastkopf mit 33 GHz- Bandbreite und höchster Empfindlichkeit für schnelle serielle Daten- und RF-Signale mit sehr kleinem Pegel an. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |