|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsBreitbandiger Kanalsimulator zum Test von Satelliten- und Flugzeug-Funkverbindungen16. Dezember 2013 – IZT, ein Entwickler, Hersteller und Anbieter von Produkten zur Erfassung, Modifikation und Erzeugung von Funksignalen, stellt einen neuen breitbandigen Kanalsimulator für Datenverbindungen von Satelliten und UAVs vor. Der IZT C3040 erlaubt eine akkurate, komplexe und reproduzierbare Simulation von Uplink, Payload und Downlink und ermöglicht so die Nachbildung realistischer Szenarien zum Test von Produkten im Labor. Rohde & Schwarz bringt Technologiemagazin „NEUES“ aufs Tablet16. Dezember 2013 — Das Technologiemagazin „NEUES“, das seit mehr als 50 Jahren in einer Auflage von rund 75.000 Exemplaren in fünf Sprachen über Innovationen bei Rohde & Schwarz informiert, ist ab sofort als App für iPad und Android-Tablets verfügbar. Alle Beiträge der aktuellen Ausgabe sowie älterer Hefte sind damit sofort verfügbar, zoombare Texte, Grafiken und Bilder ermöglichen ein komfortables Lesen. Weitere Pluspunkte sind die Einbindung von Multimedia-Komponenten wie Videos und der direkte Zugriff auf weiterführende Inhalte im Internet. 4 GHz Mixed-Signal-Modul für HAMEG Speicher-Oszilloskope16. Dezember 2013 - HACKER DatenTechnik hat in Zusammenarbeit mit HAMEG den Logikanalysator TravelLogic TL2236B+ an die neuen Speicheroszilloskope der HMO3000 Serie adaptiert. Durch einfaches Einstecken des Trigger-Kabels erweitert der TL2236B+ das HMO3000 Oszilloskop automatisch zu einem Mixed-Signal-Oszilloskop mit 36 Logikkanälen, 72 Mbit Speicher, 4 GHz Timing-Analyse, mehr als 60 Protokollinterpretern und speziellen Hardware-Triggern für eine Vielzahl von Bus-Systemen. Revolution bei der Bildschirm-Charakterisierung13. Dezember 2013 - Polytec bietet die Display-Charakterisierungssysteme des französischen Herstellers Eldim an. Herkömmliche Methoden benötigen für die Bildwinkel-Charakterisierung eines Displays durch tausende Messungen meist mehrere Stunden. Die Technik der EZContrast-Modellreihe erlaubt dies mit einem neuen Verfahren innerhalb von 30 Sekunden. GNSS-Simulator unterstützt chinesischen BeiDou-Standard12. Dezember 2013 — Rohde & Schwarz erweitert den Funktionsumfang seines GNSS-Simulators im R&S SMBV100A Vektorsignalgenerator um BeiDou/Compass. Nach GPS, Galileo und Glonass hat mit BeiDou ein weiteres Satellitennavigationssystem seinen Betrieb aufgenommen. Mit der Option R&S SMBV-K107 deckt der GNSS-Simulator im R&S SMBV100A nun auch diesen Standard ab. Innovative 2D- und 3D- Messverfahren für Wafer Inspektion12. Dezember 2013 - Da Dichte und Komplexität von Wafer-Strukturen von Jahr zu Jahr zunehmen, ist die Industrie auf leistungsstarke und verlässliche Systeme zur Qualitätskontrolle angewiesen. Vor diesem Hintergrund bringt ISRA VISION eine Produktlinie auf den Markt, die einen neuartigen technologischen Ansatz für die berührungslose optische Inspektion von Wafern bietet. Je nach Bedarf können verschiedene 2D- und 3D-Messverfahren zu einem Inspektionssystem kombiniert werden, das in unter einer Minute Strukturgrößen von bis zu 1 Mikrometer vermisst. Kongressprogramm der EMV 2014 veröffentlicht11. Dezember 2013 - Das Kongressprogramm der EMV 2014 in Düsseldorf vom 11. – 13.03.2014 ist ab sofort online unter www.e-emv.com abrufbar. Mit 24 deutschsprachigen Sessions, 12 Tutorials und 8 englischsprachigen Workshops bietet der EMV Kongress die ideale Plattform zu intensivem Wissens- und Erfahrungsaustausch. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |