|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Test von DDR3-DIMM-Sockeln08. Juli 2014 - GÖPEL electronic hat eine neue Lösung zum Boundary Scan Test von DDR3-DIMM Sockeln mit ECC Support entwickelt. Das CION Module SO-DIMM204-3/ECC wird einfach in den zu testenden Sockel eingesteckt und ermöglicht die strukturelle Testabdeckung des DDR3 Speicher-Interfaces. Dabei werden sämtliche Signalpins sowie fast alle Ground-Pins per Boundary Scan auf Fehlerfreiheit getestet. Ausgerüstet mit dem von GÖPEL electronic entwickelten Boundary Scan ASIC CION kann das Modul an jeden Test Access Port (TAP) angeschlossen werden.
Wechselspannungsquellen mit variabler Frequenz und bis zu 4.000 W07. Juli 2014 - Agilent bietet mit den neuen Wechselspannungsquellen der Serie AC68xxA eine Lösung für Labor und Testfeld an, um Prüfungen von elektrischen und elektronischen Geräten und Komponenten mit länderspezifischen Versorgungsspannungen vornehmen zu können. Bei einer Prüfung müssen die Hersteller dieser Geräte die Frequenz sowie Spannung und Strom variieren können, um nachzuweisen, dass die Geräte und Komponenten fehlerfrei arbeiten.
Neues Mitglied in der Geschäftsführung von Rohde & Schwarz07. Juli 2014 - Seit dem 1. Juli 2014 ergänzt Peter Riedel die Geschäftsführung von Rohde & Schwarz. Riedel ist seit knapp 25 Jahren im Unternehmen. Zuletzt war er Leiter des Geschäftsbereichs Funküberwachungs- und -ortungstechnik. Er tritt die Nachfolge von Gerhard Geier an, der sich in den Ruhestand verabschiedet hat.
Vielseitiger Transientenrekorder für mobilen und Laboreinsatz04. Juli 2014 - Die SATURN-Produktfamilie von AMOtronics umfasst robuste praxis-erprobte Transientenrecorder für vielfältige Anwendungen mit Messraten im Bereich weniger Kilohertz bis Gigahertz. Das neueste Modell SATURN Cube reiht sich zwischen der kompakten FlatSaturn und den großen 19“-Gehäusevarianten ein. Die geringen Abmessungen erlauben einen platzsparenden Einsatz in beengtem Labor wie auch für mobile Anwendungen mit hohem Kanalbedarf.
Simulationsmodell für die Entwicklung aktiver Sicherheitssysteme04. Juli 2014 - dSPACE hat sein Simulationsmodell für Verkehrs- und Umgebungssimulationen speziell für die Entwicklung und den Test moderner Fahrerassistenzsysteme erweitert. Die neue Version ASM Traffic 3.0 der Automotive Simulation Models (ASM) verfügt über alle erforderlichen Leistungsmerkmale, um aktive Sicherheitssysteme wie Notbremsassistenten und Notlenkassistenten per Simulation zu testen sowie deren Leistungsfähigkeit in frühen Entwicklungsphasen zu demonstrieren.
Oszilloskop-Serie mit 500 MHz Bandbreite und 10.1'' Touchscreen-Bildschirm03. Juli 2014 – Teledyne LeCroy präsentiert die neue WaveSurfer 3000 Oszilloskop-Serie, die erstmals in dieser Klasse die bewährte LeCroy MAUI Bedienoberfläche bietet. Dieses fortschrittliche Bedienkonzept, das es bisher den höheren Oszilloskop-Klassen vorbehalten war, erschließt auf einzigartige Weise die umfangreichen Funktions- und Analyse-Pakete sowie all die Möglichkeiten eines Multifunktions-Instruments. Ebenfalls einzigartig in dieser Klasse ist der 10.1'' große Touchscreen-Bildschirm.
Inspektionskamera mit Quad Core Prozessor und FPGA-Coprozessor03. Juli 2014 - ADLINK Technology stellt mit NEON-1040 eine leistungsfähigen x86 Smart-Kamera vor. Sie nutzt die Rechenleistung eines Quad Core Intel® Atom™Prozessors E3845 mit 1,9 GHz, verfügt über einen monochromen, 25,4 mm (1") Global-Shutter-CMOS-Sensor mit 2048 x 2048 Pixeln bei 60 fps und unterstützt eine PWM-Beleuchtungssteuerung. Die Quad Core CPU bietet hohe Rechenleistung und der FPGA-Coprozessor sorgt zusammen mit der Grafikeinheit für exzellente Bildverarbeitung. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |