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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsWafer-Parameter-Testlösung für Leistungshalbleiter bis 3 kV01. November 2016 - Tektronix stellt das Keithley S540 Power Semiconductor Test System vor. Das voll automatisierte Parameter-Testsystem erlaubt die Prüfung von Leistungshalbleiter-Bauteilen und Strukturen auf Wafer-Ebene mit 48 Pins und bis zu 3 kV. Das voll integrierte S540 System ist für die neusten Verbindungshalbleiter-Materialien, wie Siliziumkarbid (SiC) und Gallium-Nitrid (GaN), optimiert und kann alle Hochspannungs-, Niederspannungs- und Kapazitätstests in einem einzigen Probe-Touchdown durchführen. eCall-Testlösung für Konformitätsprüfung31. Oktober 2016 – Keysight Technologies präsentiert die eCall-Konformitätstestlösung E6950A. Die neue Testlösung simuliert eine Notrufabfragestelle (Public Safety Answering Point, PSAP) und emuliert mithilfe eines Wireless-Testsets und eines HF-Signalgenerators von Keysight ein Zellularfunknetz, das GNSS- (Global Navigation Satellite System) Koordinaten bereitstellt. Diese benötigt das In-Vehicle-System (IVS), um den eCall-Mindestdatensatz (Minimum Set of Data, MSD) zu erstellen. PXI-Oszilloskop mit 14-bit-Auflösung und 1 GS/s Abtastrate28. Oktober 2016 – National Instruments (NI) stellt das Oszilloskop PXIe-5164 vor, das auf der offenen, modularen PXI-Architektur basiert und einen programmierbaren FPGA beinhaltet. Es eignet sich insbesondere für das Messen hoher Spannungen mit einer hohen Genauigkeit bei Anwendungen aus den Bereichen Luft- und Raumfahrt, Halbleitertechnik sowie Forschung und Physik. Tastköpfe für Signale bis zu 18 Gb/s27. Oktober 2016 - Pico Technology stellt eine neue Familie von Hochleistungs-Tastköpfen vor. Die passiven PicoConnect-Tastköpfe ermöglichen die kostengünstige Analyse von Breitbandsignalen und Datenströmen mit bis zu 9 GHz oder 18 Gb/s. Dazu zählen die heute omnipräsenten Standards USB 2 & 3, HDMI 1 & 2, Ethernet, PCIe, SATA und LVDS. Intelligente Input/Output-Karten und -Module für HiL-Simulation26. Oktober 2016 - Mit den NovaCarts I/O-Karten und -Modulen stellen MicroNova und carts eine neue Generation von Testsystemen für die Steuergeräteentwicklung vor. Derzeit sind sechs verschiedene „Plug & Play“-Komponenten erhältlich, unter anderem für die Simulation von Batterien in Hybrid- bzw. Elektrofahrzeugen. Jede Komponente verfügt über einen „System-on-Chip“ (SoC) sowie algorithmische Software-basierte Intelligenz. Das ermöglicht schnelle, exakte Simulationen, die sich flexibel an neue Testbedingungen anpassen lassen. Kompakte rückspeisende AC-Quelle bis 50 kVA25. Oktober 2016 - HEIDEN power GmbH präsentiert auf der diesjährigen electronica 2016 in München neben DC-Quelle-Senke-Systemen ein neues, extrem kompaktes AC-Quelle-Senke System. Die Besonderheit der Senke ist die Rückspeisefähigkeit ins Netz sowie die 100% Überlastfähigkeit für einige Sekunden. Ein weiteres herausragendes Leistungsmerkmal ist die besonders kompakte Bauweise und die Modularität. Oszilloskope unterstützen PSI5-Bus-Analyse24. Oktober 2016 - Für die achtkanaligen DLM4000 sowie die vierkanaligen DLM2000 Oszilloskope bietet Yokogawa eine neue Option an, welche die Analyse des PSI5-Bus (Peripheral Sensor Interface 5) unterstützt. Yokogawa ist damit der erste Hersteller, der seine Oszilloskope mit dieser einzigartigen und hilfreichen Funktion für Automobilentwickler und Ingenieure ausstattet. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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