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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsTestlösung für Bluetooth 521. Dezember 2016 - Zeitgleich mit dem Bluetooth Release 5 erweitert Rohde & Schwarz den Funktionsumfang seiner Radio Communication Tester der R&S CMW-Reihe für die neue Spezifikation. Die Software umfasst alle notwendigen HF-Tests für Entwicklung und Fertigung, inklusive der neuen Testcases für die Bluetooth SIG Pre-Certification. Signalanalyse-Lösung mit 800 MHz Echtzeit-Bandbreite20. Dezember 2016 - Tektronix stellt mit dem RSA7100A eine Lösung für die Breitband-Signalanalyse vor, die eine 800 MHz Echtzeit-Bandbreite mit einem Streaming-Speicher für bis zu 2 Stunden bei voller Bandbreite in einem Gerät kombiniert. Der Frequenzbereich des neuen Instruments reicht von 16 kHz bis 26,5 GHz und deckt damit vielfältige Analyse-Anforderungen für kritische Breitband-Anwendungen ab. Prüfsonde zur Ortung externer PIM-Quellen19. December 2016 – Anritsu stellt mit dem PIM Hunter eine Prüfsonde zum Aufspüren von passiver Intermodulation (PIM) vor, mit der Techniker im Feldeinsatz den genauen Ort externer PIM-Quellen an Funkzellenstandorten besser erfassen können. Die Prüfsonde wurde speziell für den Einsatz mit den Handheld-Analysatoren der Baureihen PIM Master, Spectrum Master und BTS Master von Anritsu konzipiert. Batteriestrom-Analyselösung liefert Einblicke in dynamische Stromaufnahme16. Dezember 2016 – Keysight Technologies präsentiert eine Batteriestrom-Analyselösung, die Entwicklern einen tiefen Einblick in die dynamische Stromaufnahme von Geräten für Anwendungen in der Energie-, Automobil- und Medizintechnik ermöglicht. Keysight ist der einzige Messgerätehersteller, der eine integrierte Lösung anbietet, mit der man die über einen extrem weiten Bereich schwankenden Betriebsströme solcher Geräte analysieren kann. JTAG/Boundary Scan Erweiterung für TAKAYA Flying Prober15. Dezember 2016 - GÖPEL electronic und SYSTECH Europe haben eine JTAG/Boundary Scan Integration für die TAKAYA Flying Probe Tester (FPT) APT-1400F entwickelt. Die Lösung basiert auf einer vollständigen Integration der Boundary Scan Hardware SCANFLEX sowie der Software SYSTEM CASCON. In Kombination mit dem Flying Probe Tester von TAKAYA wird somit eine kosten- und zeiteffiziente Plattform zum Test elektrischer Baugruppen in der Produktion geboten. National Instruments gibt Wechsel in der Geschäftsführung bekannt14. Dezember 2016 – National Instruments gibt bekannt, dass Alex Davern (49) zum neuen Chief Executive Officer und President von National Instruments ernannt wurde. Der Wechsel tritt zum 1. Januar 2017 in Kraft. Davern wird somit Nachfolger von Dr. James Truchard (73), der diese Position seit der Unternehmensgründung im Jahr 1976 innehatte. Dr. Truchard wird weiterhin Chairman of the Board bleiben. Die offizielle Ernennung Daverns in das Board of Directors wird voraussichtlich Ende Januar 2017 erfolgen. Der Wechsel ist Teil der Nachfolgeplanung der Unternehmensführung. Pick-and-Place-IC-Handler für die Großserienfertigung und Bauteil-Charakterisierung14. Dezember 2016 – Advantest bietet mit dem M4872 einen Pick-and-Place-Handler an, mit dem sich die Produktivität beim Test von SoC-Bauteilen (System-on-Chip) in der Großserienproduktion (HVM) und in der Bauteil-Charakterisierung vor dem Produktionsanlauf verbessern lässt. Die Anwender können dadurch mit den dynamischen Veränderungen im SoC-Markt Schritt halten und kurzfristig auf neue Bauteil-Technologien reagieren. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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