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Validierungstest für PCIe Gen 3 und Gen 4

27. Oktober 2022 -- Tektronix stellt mit dem TMT4 Margin Tester eine neue Produktkategorie vor, die den PCI Express-Validierungstest revolutioniert und in wenigen Minuten Ergebnisse liefern, für die bisher Stunden oder sogar Tage für die Einrichtung und den Testens erforderlich waren, was hohe Kosten verursachte. Der TMT4 Margin Tester nutzt dazu einen völlig neuen Ansatz für Validierungstests von PCIe Gen 3 und Gen 4 Motherboards, Add-in-Karten und Systemdesigns.

Während PCIe-Tests in der Regel komplexe Testsysteme und Ingenieure mit umfangreichem Fachwissen und Kenntnissen erfordern, ermöglicht der TMT4 Margin Tester Entwicklern aller Erfahrungsstufen, den Zustand von Transmitter- (Tx) und Receiver- (Rx) Links schnell zu bewerten, was die Markteinführungszeit und die Betriebskosten erheblich reduziert. Die Plattform unterstützt die meisten gängigen PCIe-Formfaktoren, einschließlich CEM, M.2, U.2 und U.3, mit Testmöglichkeiten von bis zu 16 Lanes über die PCIe-Presets 0-9, unter Verwendung eines einzigen Standardsteckers.

Verbesserung des PCIe-Workflows zur frühzeitigen Aufdeckung von Problemen

Der Tektronix TMT4 Margin Tester zeichnet sich durch eine hohe Geschwindigkeit und Vielseitigkeit für PCIe-Tests aus. Damit ist er eine ideale Option für eine frühzeitige und häufigere Bewertung des Zustands von Verbindungen auf Board- oder Systemebene während des Designs und der Validierung. Der TMT4-Tester soll vollständige Validierungs- und Konformitätstestsysteme, die aus Oszilloskopen und BERTs bestehen, ergänzen und kann Probleme früher im Designprozess aufdecken, bevor eine eingehende Untersuchung mit herkömmlichen Geräten erfolgt.

Bahnbrechende Geschwindigkeit und Einfachheit

Neue Technologien sind komplexer denn je und erfordern viel Zeit und Fachwissen, um sie zu validieren. Der neue TMT4 Margin Tester ermöglicht einen Test von PCIe-Geräten über bis zu 160 Kombinationen von Lanes und Presets in nur 20 Minuten bei Gen 4-Geschwindigkeiten. Die Multi-Lane-Testfunktionen ermöglichen es die Gesamttestzeit erheblich zu verkürzen, indem sie die Anzahl der für die Durchführung der Tests erforderlichen Verbindungswechsel reduzieren.

Highlights:

• Der Quick-Scan-Modus ermöglicht die Bewertung des Zustands der Verbindungen für Gen 3- oder Gen 4-Geräte mit bis zu 16 Lanes innerhalb von Minuten, nicht Stunden oder Tagen.

• Der benutzerdefinierte Scan-Modus bietet tiefere Einblicke, indem er Benutzern ermöglicht, Gen 3- oder 4-Geräte, mit bis zu 16 Lanes, über PCIe-Presets 0-9 (bis zu 160 Kombinationen) in weniger als 20 Minuten zu scannen.

• Einfache Einrichtung und Konfiguration minimieren die Notwendigkeit des Einsatzes von erfahrenen Ingenieuren zur Bewertung des Zustands der Verbindungen in ihren Designs.

• Vollständige Tx/Rx-Protokollfähigkeit, die eine Bewertung des Zustands von PCIe Gen 3- und Gen 4-Kommunikationstechnologien auf beiden Seiten der Verbindung in einem einzigen Modul ermöglicht.

• Die Fähigkeit zum Multi-Lane-Test ermöglicht es den Benutzern, die Gesamttestzeit erheblich zu verkürzen, indem sie die Anzahl der für die Durchführung der Tests erforderlichen Verbindungswechsel reduzieren.

• Die Sichtbarkeit von Link-Trainingsparametern bietet zusätzliche Erkenntnisse darüber, mit welcher Ausgleichung die Verbindung hergestellt wurde.

• Eine Vielzahl von Adaptern, die die gängigsten PCIe-Formfaktoren für den einfachen Anschluss an Motherboard- und Add-in-Karten-DUTs unterstützen, einschließlich CEM, M.2, U.2 und U.3.

Verfügbarkeit

Der Tektronix TMT4 Margin Tester ist ab sofort erhältlich.

www.tek.com/