|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
![]() HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
SMT/HYBRID/PACKAGING: Neuer Benchtop-AOI-Tester28. Mai 2010 - ORPRO Vision zeigt auf der SMT/HYBRID/PACKAGING nicht nur die gesamte Palette von AOI-Systemen des Unternehmens sondern auch einen Prototypen des neuen Benchtop-AOI-Systems, das auf einem komplett neuen Inspektionskonzept basiert. Das neue Benchtop-AOI-System ist das erste System einer neuen Produktplattform, die dieses Inspektionskonzept nutzt. Alle zukünftigen Systeme von ORPRO Vision sollen auf dieser neuen Produktplattform basieren und sich für die Inspektion aller Technologien in der Elektronikfertigung eignen. Zudem steht diese Produktplattform ganz im Zeichen der Vereinfachung aller Bedien-, Programmier- und Wartungsaspekte, bei gleichzeitiger Erzielung der schnellsten Taktzeiten. Das neue Benchtop-AOI-System ermöglicht eine vollständige 3D-Inspektion mit insgesamt 5 intelligenten Kameras, einem proprietären Beleuchtungssystem und einer neu entwickelten Software. Der Prototyp wurde schon auf der Productronica und SMTA gezeigt. www.orprovision.comWeitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
![]() Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
|
||
© All about Test seit 2009 |