|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
![]() HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Mass Interconnect Lösung für Baugruppentest
Der Adapterrahmen mit Toleranzausgleich sowie 12 schwimmend gelagerten Steckverbinderrahmen verbessert und vereinfacht den Steckvorgang. Zusätzlich verringert die Anzahl von acht Anzugspunkten eine Rahmenverformung. ODU bietet eine europäische Lösung auf höchstem Qualitätsniveau mit weltweiter Verfügbarkeit an. ODU-MAC Black-Line auf einen Blick:
Höchste Flexibilität entsteht durch die Vielfalt an Modulen, die sich individuell kombinieren lassen. So können je nach Anforderung Signale, Power, Hochstrom, Hochspannung, HF-Signale (Koax), Druckluft- und Fluiddurchführung, Vakuum, Lichtwellenleiter und Datenraten/High-Speed übertragen werden. Die ODU-MAC Black-Line gibt es in zwei Größen. Die größere Ausführung bietet aufgrund der kompakten Bauweise Platz für bis zu 4.440 Signalkontakte. Für den Anschluss der Kontakte hat der Kunde die Wahl zwischen verschiedenen Anschlusstechniken: Crimpen, Löten, PCB/Print und Wire Wrap. Darüber hinaus bietet ODU zuverlässigen Kundenservice und die Möglichkeit der Kabelkonfektionierung. ODU-Kunden profitieren von 80 Jahren Erfahrung und Expertise in der elektrischen Verbindungstechnik. Dank modularem Aufbau ist die ODU-MAC Black-Line eine Lösung für unterschiedlichste Anforderungen. Die Systemschnittstelle kann im Bereich Mess- und Prüftechnik beispielsweise in den Branchen Automotive, Medizin, Telekommunikation, Luft- und Raumfahrt sowie Militär und Konsumgüter eingesetzt werden. ODU ist auf der productronica in Halle A1, Stand Nr. 520 zu finden. Am 20./21.11.2019 finden Sie ODU bei den NIDays Europe in München. www.odu.de/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
![]() Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
|
||
© All about Test seit 2009 |