Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Neuer Test Coverage Analyzer für Boundary-Scan-Tests

Goepel TestCoverageAnalyzer18. Oktober 2019 - Die Software SYSTEM CASCON für die Embedded JTAG Solutions von GÖPEL electronic erhält in der neuen Version 4.7 einen von Grund auf überarbeiteten Test Coverage Analyzer (TCA). Das leistungsfähige Tool erhält neue Eigenschaften und zahlreiche Funktionen. Dadurch sind Testaussagen kräftiger gegenüber einfachen JTAG/Boundary Scan-Analysen.

Der neue TCA gibt verbesserte Auskunft darüber, welche Netze und Pins ausreichend und welche ungenügend getestet sind. Damit lassen sich effektiv Problemstellen (z.B. durch ungenügende Tests) oder mögliche Zeitersparnisse (z.B. durch zu viele Tests) aufdecken. Durch eine Testgruppen-Definition kann der Anwender genau definieren, ab wann ein Element als getestet gilt, und welche Attribute dafür notwendig sind. Die Attribut-Basis ist dabei erweitert worden. Durch Eigenschaften wie Level (High/Low), Direction (In/Out) oder Speed (Dynamic, Static, Functional, Stress) ist jederzeit erkennbar, wie umfangreich ein Element getestet wurde. Besonderen Wert erhält die Nachbarschaftsanalyse im neuen TCA der SYSTEM CASCON 4.7. Die angrenzenden Elemente eines Objektes werden identifiziert und analysiert. Dadurch wird die Testaussage-Genauigkeit deutlich gesteigert, da bspw. Kurzschlüsse nur zwischen benachbarten Pins betrachtet werden. Eine weitere Neuerung liegt in der Abbildung der GÖPEL electronic Emulationstechnologien. Ab sofort fließen die Testabdeckungen von VarioTAP, ChipVORX und JEDOS in die Analyse ein.

Durch Verwendung von Filtern und umschaltbaren Templates für Testgruppen-Definitionen ändert sich der Fokus der Analyse blitzschnell. Mit wenigen Klicks wird nicht nur ersichtlich was getestet wurde, sondern auch wie. Mit einer hierarchischen Visualisierung kann der Grad der Übersichtlichkeit, bzw. der Details, jederzeit angepasst werden.

www.goepel.com/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

SPS/IPC/DRIVES 2019
26. bis 28. November 2019
zur Terminübersicht...
EMV/Funk-Fachtagung
16. Januar 2020
zur Terminübersicht...
GMM/DVS-Fachtagung
18. - 19. Februar 2020
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px