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Thermische Validierung von SSDs gemäß Automotive Standards

12. August 2019 – Advantest hat das MPT3000ARC-System, das jüngste Mitglied seiner MPT3000-Produktfamilie, vorgestellt, das zum Testen und Debuggen von Solid-State-Laufwerken (SSD) verwendet wird. Das voll integrierte MPT3000ARC kann innerhalb eines großen Temperaturbereichs betrieben werden. Dadurch können SSDs getestet werden, die in wachsenden Märkten, wie intelligenter Automobilelektronik oder Wearables, zum Einsatz kommen.

Immer mehr SSDs werden in extremen thermischen Umgebungen eingesetzt. Diese Bauteile müssen nachweislich rauen Bedingungen standhalten. Das neueste System der MPT3000-Serie ermöglicht erweiterte thermische Tests, indem es den Anforderungen von Automotive- und Industrietests gerecht wird und gleichzeitig dieselbe bewährte Architektur, hinsichtlich Software und Datenleistung - einschließlich der PCIe Gen 4-Unterstützung - anwendet, die bereits bei SSD-Herstellern weit verbreitet ist.

Das MPT3000ARC ist vielseitig einsetzbar. Durch auswechselbare und kundenspezifisch anpassbare Schnittstellen kann das System eine Vielzahl von SSD-Formfaktoren, von 40 mm M.2-Speichern bis hin zu größeren EDSFF-Bauteilen, testen. Der Austausch von Schnittstellenkarten ist schnell und einfach und ermöglicht eine rasche Umstellung, sodass der Test zahlreicher SSD-Produkte auf einem einzigen System ermöglicht wird.

Zur Erhöhung der Effizienz und Leistung verfügt das System über die gleiche Tester-pro-DUT-Architektur und Hardwarebeschleunigung wie alle MPT3000-Produkte. Die Bereichserweiterung der Temperaturkammer schafft eine Lösung, die Zuverlässigkeitsdemonstrationstests (RDT) ermöglicht und mit produktionsgerechter Ergonomie und automatisierungsfreundlichem Systemzugang auch die Prüfung von SSDs in Großserie erlaubt.

Die MPT3000-Serie nutzt in jedem Tester die gleichen Modulkomponenten und Stromversorgungen. Sie umfasst nun das neue MPT3000ARC System, das MPT3000ES2 Engineering-System, das MPT3000EV2 für RDT Zuverlässigkeitsdemonstrationstests und das MPT3000HVM2 für den Test hoher Stückzahlen in der Produktion. Diese Systeme umfassen SSD-Tests vom Design bis hin zur Fertigung und bieten SSD-Anbietern den schnellsten und risikoärmsten Weg zur Markteinführung ihrer Speicherchips der nächsten Generation, einschließlich PCIe Gen 4-Bauteilen.

Das MPT3000ARC-System ist bereits für Kunden verfügbar.

www.advantest.com/