|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
![]() HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Verschattung von Bauteilen bei AOI-Test während Design-Prozess prüfen
In Zeiten von immer komplexerem Leiterplattendesign und kleineren Bauteilen, Kostendruck sowie zuverlässiger Qualitätskontrolle bis hin zur Null-Fehler-Strategie bei der Fertigung sicherheitsrelevanter Produkte ist der Einsatz der automatischen optischen Inspektion (AOI) mittlerweile allgemein üblich. AOI ist ein visuelles, berührungsloses Inspektionssystem, das ein Kamerasystem verwendet, um die Platine autonom auf Defekte wie Bauteilversatz, Grabsteine, unzureichende Lötstellen, abgehobene Leitungen und andere Fehler zu prüfen. Im AOI-Prozess können Probleme auftreten, wenn große Komponenten Schatten verursachen, da Lötstellen nicht ordnungsgemäß überprüft werden können, oder wenn einzelne Pins durch zu nah platzierte andere Bauteile nicht vom Kamerasystem eingesehen werden können. Zur Vermeidung dieser Situationen stellen die Hersteller von AOI-Inspektionssystemen Entwurfsregeln bereit. Diese Regeln variieren je nachdem, ob mit einem 2D- oder 3D-Systeme gearbeitet wird. Das FloWare Modul AOI Check wurde entwickelt, um diese Gefahr und den damit entstehenden höheren Kostenaufwand zu minimieren oder gar zu eliminieren. Es prüft die Verschattung von Bauteilen inkl. Bauteilpins durch benachbarte höhere Bauteile und generiert DRC Marker. Parameter wie Kamerawinkel und Inspektionsrichtung lassen sich individuell anpassen. Das Modul eignet sich für die Verwendung von 2D- und 3D-Inspektionssystemen. Parameter wie Kamerawinkel und Inspektionsrichtung lassen sich individuell anpassen. www.flowcad.ch/de/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
![]() Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
|
||
© All about Test seit 2009 |