|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
![]() HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Schnelles 3D-AXI-System auf der Basis der Computertomographie
Von Anbeginn setzte OMRON nicht auf herkömmliche 3D-Technik, die einzelne ausgewählte Schichtebenen von verdeckten Regionen der Leiterplatte analysieren, sondern nutzt die aus der Medizin bekannte Computertomographie (CT). Das ermöglicht die Aufnahme von 3D-Informationen der gesamten Leiterplatte an allen Stellen und in allen Lagen und bietet die beste Bildqualität. Mit der komplett neuen VT-X750 wird nun ein neuer Meilenstein im Marktsegment gesetzt. Das System arbeitet nach der planaren CT-Methode und kann zwischen 400-600 Schnittebenen gleichzeitig aufnehmen. Auf Grund der neuen „on_the_fly“ Bewegung von Detektor und Röntgenröhre, bleibt die Leiterplatte fest fixiert. Damit ist das System zum einen sehr schnell geworden, und da die Baugruppe nicht mehr durchs Gehäuse bewegt werden muss, können auf kleinem Footprint, Leiterplatten bis 610x515 mm verarbeitet werden. Neu ist auch der vielfältige Ansatz der möglichen Hardware-Einstellungen. Auflösungen von 6-30 um können mit verschiedenen Winkeln (45 und 30 Grad) und programmierbaren Projektionen (32 – 512) unterlegt werden. Die verwendete CT-Technologie erlaubt zudem, das Gerät auch im Analyse-Mode zu nutzen. Programmierer, aber auch Verifizierer können sich durch die gesamte Leiterplattendicke und durch alle Komponenten, durchscrollen – das macht die Handhabe des Prozesses deutlich einfacher und verständlicher und ist in herkömmlichen 3D AXI Systemen nicht möglich. Natürlich ist die Programmierung vergleichbar einfach zu modernen AOI Systemen. Basierend auf den Bestückdaten, werden aus einer Bibliothek entsprechende Algorithmen genutzt und selbst sehr schwierige und mehrlagige Baugruppen und Komponenten sind damit handhabbar (z.B. auch LGA, Pressfit, Durchkontaktierungen, Bondwire). Das System entspricht den gesetzlichen Regelungen eines Vollschutzgerätes und bringt Nachweise der Zertifizierung nach CE, SEMI, NFPA und FDA mit. Die nötige Abnahme durch den TÜV bietet ATEcare bereits bei der Installation inklusiv mit an. www.ATEcare.de/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
![]() Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
|
||
© All about Test seit 2009 |