|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
![]() HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
PXI-Module für Fehlersimulation in Automobil- und Luftfahrtanwendungen
Damit können drei verschiedene Fehlerzustände zwischen Testvorrichtung und Messobjekt simuliert werden:
Die Module der Reihe 40-202 ergänzen das breite Spektrum der Pickering Fehlersimulation für typische Hardware-in-the-loop Simulationsanwendungen elektronischer Steuereinheiten (ECU). Relais, in Reihe geschaltet mit dem Signalpfad, können Unterbrechungen auf den jeweiligen oder beiden Seiten eines Signalpaares simulieren. Mittels Relais zwischen den einzelnen Kanalpaaren lassen sich benachbarte Signale kurzschließen. Zusätzliche Relais zwischen den Signalpfaden und den Fehler-Anschlüssen ermöglichen externe Fehlerbedingungen für die Anwendung zu integrieren. Diese Produkte werden durch das Pickering eBIRST Switching System Test Tools unterstützt, das eine einfach und schnelle Lokalisierung von fehlerhaften Relais ermöglicht. Der mögliche Einsatz der Pickering Signalrouting Software Switch Path Manager vereinfacht das Signalrouting in komplexen Fehlersimulationskonfigurationen. Alle von Pickering Interfaces gefertigten Produkte werden mit einer 3-Jahresgarantie und einer Langzeitverfügbarkeit ausgeliefert. www.pickeringtest.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
![]() Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
|
||
© All about Test seit 2009 |