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Neues Messmodul für In-Circuit- und Funktionstest

04. Mai 2015 – CheckSum präsentiert auf der SMT in Nürnberg am Stand 7A-421 die neue Messkarte V12 für die In-Circuit- und Funktions-Test-Systeme des Unternehmens. Mittels der Power-Off-Testtechnologie kann die Messkarte V12 mit Stimulus-Spannungen bis herab zu 50 mV arbeiten und schützt so empfindliche Schaltungen zuverlässig vor elektrischer Überlastung (EOS). Die V12-Messkarte eignet sich für alle In-Circuit-Testsysteme von CheckSum.

ICs und andere empfindliche Bauteile können getestet werden, ohne dass die Betriebsspannung angelegt werden müsste, wodurch eine potenzielle Schädigung der Komponenten beim In-Circuit-Test sicher vermieden wird. Die angelegte Stimulus-Spannung wurde dabei an die Spannungsniveaus der neuesten Halbleiter-Generationen angepasst.

Die aktuelle Version der Karte reduziert durch den Einsatz modernster digitaler Signalverarbeitung die Testzeiten und steigert damit den Durchsatz bei ICT- und FT-Messungen. Zudem wird eine hohe Stabilität der Messungen gewährleistet.

Neuer In-Circuit Tester

CheckSum zeigt außerdem den neuen Analyst ils Tester, der verschiedenste Arten von Baugruppen testen kann und über ein Leiterplatten-Handhabungssystem für den Einsatz in automatisierten Produktions- und Testlinien verfügt. Analyst ils verbindet den Test auf Fertigungsfehler mit der TestJet-Technologie, um beim In-Circuit-Test von Einzelleiterplatten oder Nutzen bei kürzester Testzeit eine maximale Fehlerabdeckung zu erzielen.

Der Analyst ils Tester führt effiziente Tests an ausgeschalteten analogen oder digitalen Baugruppen in THT- und SMT-Technologie durch und erkennt Fertigungsfehler wie falsche, fehlende oder verpolte Bauteile sowie Unterbrechungen und Kurzschlüsse. Mit Hilfe der standardmäßig verfügbaren TestJet-Technologie spürt der Analyst ils Tester Unterbrechungen in und an den meisten analogen und digitalen integrierten Schaltungen auf. Diese Fehlerarten sind für die meisten Probleme moderner Elektronik-Fertigungen verantwortlich.

Die optionalen Funktionstest-Möglichkeiten für Prüflinge unter Spannung eignen sich ideal für niederfrequente analoge Baugruppen mit einem untergeordneten Anteil digitaler Schaltungen.

Der Analyst ils testet die gesamte Baugruppe und einzelne Bauteile, ohne dass der Prüfling mit Spannung versorgt werden müsste. Ausgefeilte Messtechniken wie DC-Messungen oder Messungen komplexer Impedanzen (Z-Messungnen) in Verbindung mit Mehrpunkt-Guarding ermöglichen dem System, schnelle und präzise Durchgangsprüfungen und Messung von Kondensatoren, Widerständen, Induktivitäten durchzuführen und Spannungen, insbesondere Halbleiter-Schwellenspannungen zu erfassen und SMT-Verbindungen auf Unterbrechungen zu prüfen. Das System erkennt die meisten Fehler, während sich der Prüfling in einem sicheren, weil ausgeschalteten Zustand befindet. Spezifische Meldungen zur Fehlerdiagnose ermöglichen eine schnelle Reparatur der Prüflinge.

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