|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
![]() HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Neues Messmodul für In-Circuit- und Funktionstest
ICs und andere empfindliche Bauteile können getestet werden, ohne dass die Betriebsspannung angelegt werden müsste, wodurch eine potenzielle Schädigung der Komponenten beim In-Circuit-Test sicher vermieden wird. Die angelegte Stimulus-Spannung wurde dabei an die Spannungsniveaus der neuesten Halbleiter-Generationen angepasst. Die aktuelle Version der Karte reduziert durch den Einsatz modernster digitaler Signalverarbeitung die Testzeiten und steigert damit den Durchsatz bei ICT- und FT-Messungen. Zudem wird eine hohe Stabilität der Messungen gewährleistet. Neuer In-Circuit Tester CheckSum zeigt außerdem den neuen Analyst ils Tester, der verschiedenste Arten von Baugruppen testen kann und über ein Leiterplatten-Handhabungssystem für den Einsatz in automatisierten Produktions- und Testlinien verfügt. Analyst ils verbindet den Test auf Fertigungsfehler mit der TestJet-Technologie, um beim In-Circuit-Test von Einzelleiterplatten oder Nutzen bei kürzester Testzeit eine maximale Fehlerabdeckung zu erzielen. Der Analyst ils Tester führt effiziente Tests an ausgeschalteten analogen oder digitalen Baugruppen in THT- und SMT-Technologie durch und erkennt Fertigungsfehler wie falsche, fehlende oder verpolte Bauteile sowie Unterbrechungen und Kurzschlüsse. Mit Hilfe der standardmäßig verfügbaren TestJet-Technologie spürt der Analyst ils Tester Unterbrechungen in und an den meisten analogen und digitalen integrierten Schaltungen auf. Diese Fehlerarten sind für die meisten Probleme moderner Elektronik-Fertigungen verantwortlich. Die optionalen Funktionstest-Möglichkeiten für Prüflinge unter Spannung eignen sich ideal für niederfrequente analoge Baugruppen mit einem untergeordneten Anteil digitaler Schaltungen. Der Analyst ils testet die gesamte Baugruppe und einzelne Bauteile, ohne dass der Prüfling mit Spannung versorgt werden müsste. Ausgefeilte Messtechniken wie DC-Messungen oder Messungen komplexer Impedanzen (Z-Messungnen) in Verbindung mit Mehrpunkt-Guarding ermöglichen dem System, schnelle und präzise Durchgangsprüfungen und Messung von Kondensatoren, Widerständen, Induktivitäten durchzuführen und Spannungen, insbesondere Halbleiter-Schwellenspannungen zu erfassen und SMT-Verbindungen auf Unterbrechungen zu prüfen. Das System erkennt die meisten Fehler, während sich der Prüfling in einem sicheren, weil ausgeschalteten Zustand befindet. Spezifische Meldungen zur Fehlerdiagnose ermöglichen eine schnelle Reparatur der Prüflinge. Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
![]() Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
JTAG
Funktionstest
Oszilloskop
AOI-Test
Rohde & Schwarz
Göpel
PXI
Automotive
National Instruments
EMV-Messtechnik
Inspektion
Röntgeninspektion
Pickering
In-Circuit-Test
Batterietest
LXI
Yokogawa
Flying
Stromversorgung
Meilhaus
Photovoltaik
LTE
Netzwerkanalysator
Handheld
Solarzellen
CAN
Emulation
ICT
Advantest
Leistungsmessung
Schaltmodul
Viscom
ATEcare
Keysight
SPI
|
||
© All about Test seit 2009 |