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Aktuelle Test- und Messtechnik-News
AOI-Modul mit 3D-Technologie
Ausschlaggebend für die Ausweitung der 3D-Technologie in die End-of-Line-Inspektion war die zunehmende Miniaturisierung der Pads und der damit gestiegene Bedarf an vertikaler und horizontaler Auflösung. Schon der Einsatz geneigter Ansichten hatte die Betrachtung aus unterschiedlichen Blickrichtungen berücksichtigt, um auch kritische Fehler im Fine-Pitch-Bereich sicher detektieren zu können. Um auch den neuen und zukünftigen Anforderungen in der Elektronikfertigung gewachsen zu sein, ist es nicht nur notwendig, das Prüfobjekt als Ganzes sicher zu erkennen, sondern jeden einzelnen Punkt des Objektes zu identifizieren. Diese Aufgabe ist nun im XM-Modul mit Hilfe eines Streifenprojektors und eines mehrstufigen Lasertriangulationsverfahrens gelöst. Viscom setzt dabei auf das einzigartige, optimale Prinzip genau eines Streifenprojektors, dessen Projektion von vier bzw. acht Schrägsichtkameras aufgenommen wird. In Verbindung mit dem leistungsstarken XM-Modul stellt diese Konstellation eine optimale Verbindung aller Einzelmessprinzipien im AOI-Bereich her und schafft so ein umfassendes optisches Inspektionssystem. Mit einer Bildaufnahmerate von bis zu 1,8 Gigapixel/s ist das neue XM-Modul extrem schnell und dank zusätzlich hoher Auflösung, in der Lage, alle Informationen in eine hochgenaue 3D-Inspektion, mit höchster Geschwindigkeit umzusetzen. Die einzigartige, flexible Kamera-Projektor-Konfiguration macht gleichzeitig eine schnelle und unproblematische Nachrüstung möglich, da die Kameras schon im AOI-System vorhanden sind. Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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