Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

GPS-Inspektionssystem-SE500

GPS Technologies stellt neues 3D-Lotpasteninspektionssystem vor

GPS Technologies präsentiert zur SMT 2009 in Nürnberg das neue 3-D Lotpasten-Inspektionssystem CyberOptics SE500TM.

 

Das System ermöglicht eine 100% 3-D Lotpasteninspektion und zeichnet sich zudem durch eine hohe Geschwindigkeit aus. Dadurch können laut selbst anspruchsvollste Baugruppen mit einer Inspektionsgeschwindigkeit von >70 cm²/Sekunde inspiziert werden, ohne dass Kompromisse hinsichtlich der Messgenauigkeit und Reproduzierbarkeit notwendig sind.

Die SE 500TM kann selbst Padgrößen von 01005 Bauelementen (150 x 150 µm) inspizieren. Die SE500X (für extended) ermöglicht die Verarbeitung von Leiterplattenformaten 100 x 100 mm (4x4 in.) bis zu 810 x 610 mm (32x24 in.).

www.gps-technologies.de





Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

embedded world 2024
09. bis 11. April
zur Terminübersicht...
Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung