Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Boundary Scan Entwicklungsplattform unterstützt IJTAG (IEEE P1687)

10. Oktober 2011 - GÖPEL electronic hat eine Entwicklungsversion der Boundary Scan Softwarewareplattform SYSTEM CASCON mit integrierten Werkzeugen für den künftigen Standard IEEE P1687 (IJTAG) vorgestellt. Der Standard verfolgt das Ziel, den Zugriff und die Steuerung von Instrumenten, welche direkt in Chips eingebettet sind, zu normieren, wobei die Zahl der involvierten Instrumente nicht limitiert ist.

Durch entsprechend kompatible Testsysteme haben Anwender erstmals die Möglichkeit, unterschiedliche Instrumente standardisiert und universell anzusteuern. Kernelemente von IEEE P1687 sind dabei eine Beschreibungssprache zur Interface-Struktur des Instruments - genannt ICL (Instrument Connectivity Language) − sowie eine Beschreibungssprache zur Instrument-Steuerung genannt PDL (Procedural Description Language).

„Aus unserer Sicht haben Chip-embedded Instruments insbesondere im High-Speed-Bereich ein enormes Potenzial, die Zugriffsprobleme konventioneller Instrumentierungen langfristig zu lösen. Hierbei ist der neue Standard IEEEP1687 ist ein wichtiges Element“, erklärt Heiko Ehrenberg, Direktor der GOEPEL electronics LLC in den USA. „Deshalb haben wir auch die IJTAG-Initiative von Anfang an unterstützt, und demonstrieren jetzt die ersten Prototyp-Werkzeuge zur praktischen Umsetzung des IEEEP1687 Konzeptes, welche wir auch zeitnah zur finalen Standardisierung in unsere offene ChipVORX-Technologie für Chip-embedded Instruments integrieren werden. Wir sehen die Zukunft vor allem in der einander ergänzenden Kombination von externen und Chip-embedded Instrumenten, wie sie unsere Hard- und Softwareplattformen SCANFLEX und SYSTEM CASCON bereits heute ermöglichen“.

Die spezielle Entwicklungsversion von SYSTEM CASCON enthält integrierte Prototypen eines ICL-Parsers/Compilers, sowie eines PDL-Executors. Als Demo-Vehicle für Chip-embedded Instruments dienen spezielle FPGA-Softmacros, deren Zugriffs-Interface in ICL beschrieben wird. Die Demonstration beinhaltet das Parsen der ICL-Information und die anschließende Ansteuerung des Instruments durch PDL-Sequenzen.

Neben diesen Prototypen steht auch ein ICL- zu VHDL-Konverter zur Verfügung um IJTAG Instrumente automatisiert erzeugen zu können.

Die spezielle Entwicklungsversion von SYSTEM CASCON stellt eine Konzeptstudie dar und ist derzeit nur für nicht-kommerzielle Forschungs- und Entwicklungsaufgaben erhältlich. Eine finale Version ist zeitnah nach der offiziellen Ratifizierung des Standards geplant.

www.goepel.com


Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...
PCIM
Sensor & Test
SMTconnect

11. bis 13. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung